Gruppe: EVIDENT
Katalogauszüge
Moderne Mikroskopie leicht gemacht
Katalog auf Seite 1 öffnenKonzipiert für Anwendungen in der Industrie und Werkstoffwissenschaft. Mit ihrem modularen Konzept bietet die BX3M Serie Vielseitigkeit für ein breites Spektrum von Anwendungen in Industrie und Materialforschung. Dank der verbesserten Integration in die PRECiV Software ermöglichen BX3M Mikroskope reibungslose Arbeitsabläufe bei mikroskopischen Standardanwendungen und digitaler Bildgebung von der Untersuchung bis zur Berichterstellung.
Katalog auf Seite 2 öffnenModerne Mikroskopie leicht gemacht Bedienerfreundlich Die einfache, geführte Einrichtung der Mikroskopeinstellungen erleichtert die Anpassung und Reproduktion der Systemeinstellungen. Funktional Das BX3M wurde für die herkömmliche Industriemikroskopie entwickelt und kann dank seiner erweiterten Funktionen ein breiteres Spektrum von Anwendungen und Prüfungstechniken abdecken. Präzisionsoptik Wir sind seit Jahren als Hersteller hochwertiger Optiken bekannt, die sowohl im Okular als auch auf dem Bildschirm hervorragende Bilder liefern. Vollständig anpassbar Das modulare Konzept bietet die...
Katalog auf Seite 3 öffnenIntuitive Einstellelemente: komfortabel und einfach zu bedienen Bei Prüfungsaufgaben dauert es oft sehr lange, die Mikroskopeinstellungen anzupassen, das Bild zu erfassen und die notwendigen Messungen durchzuführen, um schließlich den gewünschten Bericht erstellen zu können. Unter Umständen müssen Zeit und Geld in eine professionelle Mikroskopschulung investiert werden, um zu erfahren, wie die Möglichkeiten eines Mikroskops voll ausgeschöpft werden können. Das BX3M Mikroskop vereinfacht komplexe Mikroskopieaufgaben durch seine durchdachten und benutzerfreundlichen Bedienelemente. Bediener...
Katalog auf Seite 4 öffnenIntuitive Mikroskop-Bedienelemente Fokus-Skalenindex: Schnelle Fokuseinstellung Die richtige Einstellung von Leuchtfeld- und Aperturblende gewährleistet guten Bildkontrast und volle Nutzung der numerischen Apertur des Objektivs. Die Legende führt den Bediener durch die korrekten Einstellungen für das jeweilige Mikroskopieverfahren und das verwendete Objektiv. Der Fokus-Skalenindex am Stativ erleichtert das schnelle Scharfstellen. Bediener können den Fokus grob einstellen, ohne das Objekt durch ein Okular zu betrachten, und sparen so Zeit bei der Prüfung von Objekten mit unterschiedlicher...
Katalog auf Seite 5 öffnenFunktionen für die verschiedensten Prüfungs- und Analyseaufgaben Das BX53M unterstützt die bekannten Verfahren der konventionellen Mikroskopie wie Hellfeld, Dunkelfeld, polarisiertes Licht und differenziellen Interferenzkontrast. Bei der Entwicklung neuer Materialien können viele der bei Standardverfahren auftretenden Schwierigkeiten bei der Erkennung von Defekten durch moderne Mikroskopieverfahren gelöst werden, welche genauere und zuverlässigere Prüfungen ermöglichen. Neue Beleuchtungstechniken und Optionen für die Bildaufnahme mit der Bildanalyse-Software PRECiV bieten dem Bediener mehr...
Katalog auf Seite 6 öffnenPanoramaaufnahmen durch einfaches Bewegen des Tisches: Instant MIA Bilder können jetzt durch einfaches Bewegen des XY‑Triebs eines manuell gesteuerten Tisches zusammengefügt werden. Ein motorgesteuerter Tisch ist nicht mehr erforderlich. Die PRECiV Software nutzt die Mustererkennung zur Erstellung von Panoramabildern, die dem Bediener ein größeres Sehfeld bieten als Einzelbilder. Scharfe Bilder des gesamten Objekts: EFI Mit der Funktion „Extended Focus Imaging“ (EFI) der PRECiV Software lassen sich Bilder von Objekten aufnehmen, deren Höhe die Schärfentiefe des Objektivs übersteigt, und zu...
Katalog auf Seite 7 öffnenModernste Messungen Routine- oder Basismessung In PRECiV stehen verschiedene Messfunktionen zur Verfügung, sodass der Bediener leicht nützliche Daten aus den Bildern entnehmen kann. Zur Qualitätskontrolle und Prüfung werden häufig Messfunktionen an Bildern benötigt. Alle PRECiV Lizenzen bieten interaktive Messfunktionen wie Abstände, Winkel, Rechtecke, Kreise, Ellipsen und Polygone. Alle Messergebnisse werden zusammen mit den Bilddateien für die weitere Dokumentation gespeichert. Count and Measure Objekterkennung und Bestimmung der Größenverteilung zählen zu den wichtigsten Anwendungen bei...
Katalog auf Seite 8 öffnenDarstellung von weiteren Probenarten und -großen Der 150 x 100 mm große Tisch bietet einen längeren Verfahrweg in X-Richtung als frühere Modelle. Zusammen mit der flachen Bauweise ist es dadurch problemlos möglich, große (oder mehrere) Objekte auf dem Tisch anzubringen. Die Tischplatte ist mit Gewindebohrungen zum Anbau einer Objekthalterung versehen. Der größere Tisch bedeutet mehr Flexibilität für den Bediener, da dieser mehr Objekte mit einem Mikroskop prüfen und so wertvollen Laborraum sparen kann. Das einstellbare Drehmoment des Tisches erleichtert die Feinpositionierung bei starker...
Katalog auf Seite 9 öffnenSeit Jahrzehnten entwickeln wir hochwertige Optiken sowie Mikroskope mit bewährter optischer Qualität und hervorragender Messgenauigkeit. Wellenfront-Aberrationskontrolle Die Nutzung eines Mikroskops für anspruchsvolle Forschungsaufgaben oder zur Systemintegration verlangt eine Standardisierung der optischen Eigenschaften aller Objektive. Unsere UIS2 Objektive bieten mehr als die üblichen Standardeigenschaften für numerische Apertur (NA) und Arbeitsabstand (AA), sie können auch WellenfrontAberrationskorrekturen vornehmen, um Aberrationen zu minimieren und so die Auflösung zu erhöhen. Mit...
Katalog auf Seite 10 öffnenAnwendungen Die Auflichtmikroskopie wird in einer Vielzahl von Anwendungen in den verschiedensten Industriezweigen eingesetzt. Hier wird kurz anhand einer Auswahl an Beispielen erklärt, was mit den verschiedenen Mikroskopiemethoden erreicht werden kann. Dunkelfeld/MIX mit Hellfeld Integrierter Schaltkreis auf einem Halbleiter-Wafer Fluoreszenz/MIX mit Dunkelfeld Fotolackrückstände auf einem HalbleiterWafer Durchlicht/MIX mit Hellfeld LCD-Farbfilter Bei der Dunkelfeldmikroskopie wird das von einem Objekt gestreute oder gebeugte Licht beobachten. Da dieses Licht nur von Teilen reflektiert...
Katalog auf Seite 11 öffnenAlle Kataloge und technischen Broschüren von Evident - Olympus Scientific Solutions
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IPLEX GX/GT
8 Seiten
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IPLEX NX
12 Seiten
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MXPLFLN Series
2 Seiten
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LC35
4 Seiten
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DP28
8 Seiten
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GX53 Brochure
20 Seiten
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BXC Series Brochure
4 Seiten
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Eddy Current Probe Kits Brochure
7 Seiten
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NORTEC 600
7 Seiten
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OmniScan X3 64 Brochure
8 Seiten
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OmniScan® X3 Brochure
8 Seiten
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Camera Overview
8 Seiten
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72DL PLUS
8 Seiten
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Industrial Scanners brochure
36 Seiten
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Vanta GX Brochure
4 Seiten
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IPLEX G LITE-W brochure
4 Seiten
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PRECiV 1.2 Brochure
20 Seiten
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SZX-AR1
12 Seiten
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HTHA-Ultraschallprüflösungen
3 Seiten
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BondMaster 600
5 Seiten
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EdgeFORM™
2 Seiten
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CFRP Radii Inspection Solution
2 Seiten
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OmniScan MX
14 Seiten
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39DL PLUS
12 Seiten
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COBRA® Manual Weld Scanner
2 Seiten
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Industrial Scanners and Accessories
36 Seiten
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Vanta™ iX In-Line XRF Analyzer
2 Seiten
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Rotating Billet Inspection
5 Seiten
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Phased Array Probes and Wedges
17 Seiten
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Spotweld Transducers
2 Seiten
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72DL PLUS™
8 Seiten
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Magna-Mike™ 8600
4 Seiten
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DC1–DC5
5 Seiten
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45MG
12 Seiten
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35 RDC
2 Seiten
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OmniScan MX ECA
2 Seiten
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NORTEC™ Scanners
2 Seiten
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OmniScan® X3 64
8 Seiten
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Wind Blade Inspection Solution
4 Seiten
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IPLEX Long Scope
4 Seiten
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RVI General Overview
12 Seiten
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IPLEX TX
4 Seiten
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IPLEX G Lite
8 Seiten
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IPLEX GAir
8 Seiten
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Microscope Component Solutions
12 Seiten
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OLYMPUS Stream
16 Seiten
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DP74
8 Seiten
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SZX7
16 Seiten
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SZ61 SZ51 Brochure
24 Seiten
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SZX16 - SZX10
24 Seiten
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MX63/MX63L
20 Seiten
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CIX100
16 Seiten
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STM7 Series
24 Seiten
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LEXT OLS5000
42 Seiten
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Vanta Overview
8 Seiten
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Vanta™ Handheld XRF Analyzer
8 Seiten
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Vanta™ iX Systems
4 Seiten
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Vanta™ iX Brochure
4 Seiten
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DSX1000 Brochure
40 Seiten
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27MG
4 Seiten
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EX Series Instruments
4 Seiten
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OpenView SDK
3 Seiten
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Mini_Wheel_Encoder
2 Seiten