Gruppe: EVIDENT
Katalogauszüge
LEISTUNGSMERKMALE ■■ OmniScan Gerätekonfiguration ■■ OmniScan-Software -- vertraute, in Menüs unterteilte Benutzer berfläche o -- Anzeige von mehreren C-Bildern als Option -- Speichern von A-Bild- und C-Bild daten -- zeitabhängige Verstärkungsregelung (TCG) -- schnelles Umschalten von UT zu PA zum Prüfen und zur Fehlergrößenbestimmung -- anwendungsspezifische Farbpalette für Amplituden- oder Dicken-C-Bild -- Direktanzeige von A-Bild und B-Bild ■■ gekrümmte Linien-Arrays -- akustische Impedanz mit Wasser abgeglichen -- hohe Auflösung auf dem vom Radius bestimmten Umfang -- rostfreies Edelstahlgehäuse -- wasserdicht bis 1m -- kompatibel mit einstellbaren Tauchtechnikvorlaufkeilen Foto mit Erlaubnis von Avior, Produits Intégrés Phased-Array-Prüflösung Flugzeughersteller, Wartungsdienste und Fluggesellschaften sichern seit neuestem die Qualität der von ihnen hergestellten Verbundwerkstoffteilen gleich während der Herstellung mit der Ultraschall Phased-Array-Technologie. Teile aus kohlenstofffaserverstärktem Kunststoff (CFK) stellen wegen ihren unterschiedlichen Geometrien und Dicken besonders hohe Anforderungen. Die Prüfung von Ecken ist verhältnismäßig neu, wird aber immer wichtiger, da immer mehr CFK-Laminate für Flugzeugstrukturen eingesetzt werden. Schallbündel mit 90° auf die zu prüfende Fläche auf, ähnlich wie bei der Prüfung eines flachen Teils. Der hauptsächliche Vorteil von OmniScan PA in diesem Anwendungsbereich ist die Möglichkeit, die gesamte Ecke in einem Durchgang prüfen zu können. Je nach Prüfgeschwindigkeit können mit einer Standardkonfiguration Eckenprofile mit 200 mm/s geprüft werden. Olympus bietet mit seinen Phased-ArrayGeräten wie dem OmniScan PA eine Lösung, die höchste Prüfanforderungen erfüllt. Diese Lösung besteht aus angepassten Halterungen und gekrümmten Linien-Arrays mit 16 bis 64, in einer bestimmten Sequenz ausgelösten Elementen, die die gesamte Ecke in einem Durchgang prüfen können. Aufgrund der Geometrie des Sensors treffen alle ■■ Tauchtechnikvorlaufkeile für Ecken für gekrümmte Linien-Array-Sensoren -- mit speziellem Radius und Winkel erhältlich -- einstellbarer Radius zum Anpassen an die verschiedensten Prüfteile -- kann manuell mit einem MiniWheel™ Weggeber oder auf Zeitbasis prüfen • Deckung des gesamten Bereichs in einem einzigen Durchgang • gekrümmte Linien-Arrays • größere Wahrscheinlichkeit der Fehlererkennung • hohe Prüfgeschwindigkeit • C-Bilddarstellung Ihre Prüfaufgabe Die Olympus-Lösung zur Eckenprüfung von CFK-Material bietet erhebliche Vorteile: Foto mit Erlaubnis von Avior, Produits Intégrés
Katalog auf Seite 1 öffnenSensoren und Vorlaufkeile für die Prüfung von CFK-Eckprofilen Als weltweit führender Hersteller von Phased-Array-Sensoren hat Olympus NDT erneut mit der Einführung seiner Serie von Sensoren für gekrümmte Oberflächen seine Kenntnis schwieriger Anwendungsbereiche bewiesen. Alle Aspekte der Sensoren wurden untersucht und optimiert, die Prüfmöglichkeiten erweitert und die Ergonomie verbessert. PHASED-ARRAY-SENSOREN Teilenummer Frequenz Anzahl (MHz) Elemente Kleinster Öffnungswinkel des Prüflings (º) Diese Sensoren sind standardmäßig mit einem OmniScan-Stecker und einem 2,5 m langen Kabel...
Katalog auf Seite 2 öffnenAlle Kataloge und technischen Broschüren von Evident - Olympus Scientific Solutions
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IPLEX GX/GT
8 Seiten
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IPLEX NX
12 Seiten
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MXPLFLN Series
2 Seiten
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LC35
4 Seiten
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DP28
8 Seiten
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GX53 Brochure
20 Seiten
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BXC Series Brochure
4 Seiten
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BX53M - BXFM Brochure
28 Seiten
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Eddy Current Probe Kits Brochure
7 Seiten
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NORTEC 600
7 Seiten
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OmniScan X3 64 Brochure
8 Seiten
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OmniScan® X3 Brochure
8 Seiten
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Camera Overview
8 Seiten
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72DL PLUS
8 Seiten
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Industrial Scanners brochure
36 Seiten
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Vanta GX Brochure
4 Seiten
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IPLEX G LITE-W brochure
4 Seiten
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PRECiV 1.2 Brochure
20 Seiten
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SZX-AR1
12 Seiten
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HTHA-Ultraschallprüflösungen
3 Seiten
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BondMaster 600
5 Seiten
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EdgeFORM™
2 Seiten
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OmniScan MX
14 Seiten
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39DL PLUS
12 Seiten
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COBRA® Manual Weld Scanner
2 Seiten
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Industrial Scanners and Accessories
36 Seiten
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Vanta™ iX In-Line XRF Analyzer
2 Seiten
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Rotating Billet Inspection
5 Seiten
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Phased Array Probes and Wedges
17 Seiten
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Spotweld Transducers
2 Seiten
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72DL PLUS™
8 Seiten
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Magna-Mike™ 8600
4 Seiten
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DC1–DC5
5 Seiten
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45MG
12 Seiten
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35 RDC
2 Seiten
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OmniScan MX ECA
2 Seiten
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NORTEC™ Scanners
2 Seiten
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OmniScan® X3 64
8 Seiten
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Wind Blade Inspection Solution
4 Seiten
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IPLEX Long Scope
4 Seiten
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RVI General Overview
12 Seiten
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IPLEX TX
4 Seiten
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IPLEX G Lite
8 Seiten
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IPLEX GAir
8 Seiten
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Microscope Component Solutions
12 Seiten
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OLYMPUS Stream
16 Seiten
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DP74
8 Seiten
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SZX7
16 Seiten
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SZ61 SZ51 Brochure
24 Seiten
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SZX16 - SZX10
24 Seiten
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MX63/MX63L
20 Seiten
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CIX100
16 Seiten
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STM7 Series
24 Seiten
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LEXT OLS5000
42 Seiten
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Vanta Overview
8 Seiten
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Vanta™ Handheld XRF Analyzer
8 Seiten
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Vanta™ iX Systems
4 Seiten
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Vanta™ iX Brochure
4 Seiten
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DSX1000 Brochure
40 Seiten
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27MG
4 Seiten
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EX Series Instruments
4 Seiten
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OpenView SDK
3 Seiten
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Mini_Wheel_Encoder
2 Seiten