Gruppe: EVIDENT
Katalogauszüge
Inversmikroskop für metallurgische Anwendungen Erweiterte Mikroskopielösungen für Prüfungen in der Metallurgi
Katalog auf Seite 1 öffnenSchnelle Analyse großer oder dicker Proben Das GX53 Inversmikroskop wird für eine Vielzahl von Anwendungen in der Stahl-, Automobil- und Elektronikindustrie sowie anderen Fertigungsindustriezweigen eingesetzt. Mit dem Mikroskop können Benutzer polierte Metallproben und Querschnittsproben untersuchen und müssen sie dafür nur mit der zu prüfenden Seite nach unten auf den Tisch legen. Die Proben müssen nicht geglättet werden und können dick, groß oder schwer sein. Das GX53 liefert gestochen scharfe Bilder, die mit herkömmlichen Mikroskopieverfahren nur schwer aufzunehmen sind. In Kombination...
Katalog auf Seite 2 öffnenOptimierte Prüfprozesse Schnelles Mikroskopieren, erweiterte Funktionen Schnelle Prüfung, Messung und Analyse metallurgischer Strukturen Benutzerfreundlich Selbst Einsteiger können problemlos mikroskopieren, Ergebnisse analysieren und Berichte erstellen. Erweiterte Imaging-Technologie Bewährte Optiken und Imaging-Technologie aus unserem Hause liefern scharfe Bilder und gewährleisten zuverlässige Prüfungen. Modular Die Komponenten können je nach Anwendung ausgewählt werd
Katalog auf Seite 3 öffnenSchnelles Mikroskopieren, erweiterte Funktionen Erweiterte Analysewerkzeuge Die vielfältigen Mikroskopiefunktionen des GX53 Mikroskops liefern klare, scharfe Bilder, auf denen sich Defekte von Proben zuverlässig erkennen lassen. Die PRECiV Bildanalysesoftware bietet mit ihren Beleuchtungstechniken und Bildaufnahmeoptionen mehr Möglichkeiten für die Bewertung der Proben und die Dokumentation der Ergebnisse. Das Unsichtbare wird sichtbar: MIX-Technologie Die MIX-Technologie kombiniert Dunkelfeldbeleuchtung mit einem anderen Mikroskopieverfahren, zum Beispiel Hellfeld oder Polarisation, und...
Katalog auf Seite 4 öffnenEinfaches Erstellen von Panoramabildern: Instant MIA Scharfe Bilder des gesamten Objekts: EFI Mithilfe von Multiple Image Alignment (MIA) können Bilder durch einfaches Betätigen der XY-Knöpfe am manuell bedienbaren Tisch schnell und unkompliziert zusammengefügt werden – ein motorgesteuerter Tisch ist optional. Die PRECiV Software nutzt die Mustererkennung zur Erstellung von Panoramabildern, mit denen der Zustand von Metallflüssen oder von Metallteilen nach dem Aufkohlen geprüft werden kann. Mit der Funktion Extended Focus Imaging (EFI) der PRECiV Software lassen sich Bilder von Objekten...
Katalog auf Seite 5 öffnenPRECiV Software – optimiert für die Materialwissenschaft Materialprüfung, -messung und -analyse müssen sowohl den Industrienormen als auch den internen Betriebsverfahren entsprechen. In Verbindung mit der PRECiV Software unterstützt das GX53 Mikroskop metallurgische Analyseverfahren entsprechend den verschiedenen Industrienormen. Mit der Schritt-für-SchrittBenutzerführung können Objekte auf schnelle und einfache Weise analysiert werden. Partikelanalyse – Software-Lösung Count and Measure (Zählen und Messen) Die Erkennung von Objekten und die Bestimmung der Größenverteilung zählen zu den...
Katalog auf Seite 6 öffnenBeurteilung der Kugelgraphitbildung Die Software kann zur Beurteilung der Kugelgraphitbildung Duktiles Gusseisen mit Kugelgraphit und des Graphitgehalts in Gusseisenproben (Gusseisen mit Vermiculargraphit und Kugelgraphit) verwendet werden. Die Form, Verteilung und Größe des Kugelgraphits kann klassifiziert werden. Unterstützte Normen: ISO, NF, ASTM, KS, JIS, GB/T Bestimmung des Anteils an nichtmetallischen Einschlüssen in hochreinem Stahl Zur Klassifizierung von nichtmetallischen Einschlüssen Stahl mit nichtmetallischen Einschlüssen anhand einer Aufnahme des schlechtesten Feldes oder...
Katalog auf Seite 7 öffnenBesonders benutzerfreundliches Design Das ergonomische Design des Mikroskops unterstützt eine bequeme Arbeitsposition, was wiederum zu einer effizienteren Prüfung beiträgt. Mit der Software PRECiV können Prüfer mühelos Bilder von verschiedenen Proben erfassen, eine Vielzahl von Analysen durchführen und professionelle Berichte erstellen. Angenehmes Arbeiten Die große Reichweite des schwenkbaren Beobachtungstubus und der einstellbare Zwischentubus sorgen für eine bequeme Sitz- oder Stehposition beim Mikroskopieren. Untersuchung großer, schwerer Proben Mit dem Mikroskop lassen sich Proben von...
Katalog auf Seite 8 öffnenWiederherstellung der Mikroskopeinstellungen: Codierte Hardware Über codierte Funktionen werden die Hardware-Einstellungen des Mikroskops in die PRECiV Bildanalyse-Software integriert. Mikroskopieverfahren, Beleuchtungsintensität und Vergrößerung können von der Software automatisch mit den zugehörigen Bildern aufgezeichnet werden. Da sich die Einstellungen leicht reproduzieren lassen, kann jeder Prüfer nach minimaler Einarbeitung dieselben präzisen Prüfungen durchführen. Abruf der Geräteeinstellungen mit der PRECiV Software Bediener B Wiederherstellung des Gerätestatusmenüs Alle Bediener...
Katalog auf Seite 9 öffnenQualitätsdaten dank bewährter Optiken und digitaler Bildgebungstechnologie Das Ergebnis unserer langjährigen Erfahrung in der Entwicklung hochwertiger Optiken und erweiterter Bildgebungsfunktionen sind hochwertige Mikroskope, die eine außergewöhnliche Messgenauigkeit bieten. Zuverlässige optische Leistung: Wellenfrontaberrationskontrolle Die optischen Eigenschaften von Objektiven haben direkten Einfluss auf die Qualität von mikroskopischen Bildern und Analyseergebnissen. Olympus UIS2 Objektive mit starker Vergrößerung sollen Wellenfrontaberrationen auf ein Minimum reduzieren und besitzen...
Katalog auf Seite 10 öffnenAnwendungen Die Auflichtmikroskopie wird in einer Vielzahl von Anwendungen in den verschiedensten Industriezweigen eingesetzt. Im Folgenden sind nur einige Anwendungsbeispiele der verschiedenen Mikroskopieverfahren aufgeführt. Polierte AlSi-Probe Hellfeld ist ein häufig verwendetes Mikroskopieverfahren zur Beobachtung des Lichts, das bei senkrechter Beleuchtung von oben von einem Objekt reflektiert wird. Dunkelfeld dient zur Beobachtung des von einem Objekt gestreuten oder gebeugten Lichts, was die klare Darstellung von Defekten ermöglicht. So sind selbst kleinste Kratzer oder Mängel...
Katalog auf Seite 11 öffnenAlle Kataloge und technischen Broschüren von Evident - Olympus Scientific Solutions
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IPLEX GX/GT
8 Seiten
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IPLEX NX
12 Seiten
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MXPLFLN Series
2 Seiten
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LC35
4 Seiten
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DP28
8 Seiten
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BXC Series Brochure
4 Seiten
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BX53M - BXFM Brochure
28 Seiten
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Eddy Current Probe Kits Brochure
7 Seiten
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NORTEC 600
7 Seiten
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OmniScan X3 64 Brochure
8 Seiten
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OmniScan® X3 Brochure
8 Seiten
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Camera Overview
8 Seiten
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72DL PLUS
8 Seiten
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Industrial Scanners brochure
36 Seiten
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Vanta GX Brochure
4 Seiten
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IPLEX G LITE-W brochure
4 Seiten
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PRECiV 1.2 Brochure
20 Seiten
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SZX-AR1
12 Seiten
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HTHA-Ultraschallprüflösungen
3 Seiten
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BondMaster 600
5 Seiten
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EdgeFORM™
2 Seiten
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CFRP Radii Inspection Solution
2 Seiten
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OmniScan MX
14 Seiten
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39DL PLUS
12 Seiten
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COBRA® Manual Weld Scanner
2 Seiten
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Industrial Scanners and Accessories
36 Seiten
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Vanta™ iX In-Line XRF Analyzer
2 Seiten
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Rotating Billet Inspection
5 Seiten
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Phased Array Probes and Wedges
17 Seiten
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Spotweld Transducers
2 Seiten
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72DL PLUS™
8 Seiten
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Magna-Mike™ 8600
4 Seiten
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DC1–DC5
5 Seiten
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45MG
12 Seiten
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35 RDC
2 Seiten
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OmniScan MX ECA
2 Seiten
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NORTEC™ Scanners
2 Seiten
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OmniScan® X3 64
8 Seiten
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Wind Blade Inspection Solution
4 Seiten
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IPLEX Long Scope
4 Seiten
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RVI General Overview
12 Seiten
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IPLEX TX
4 Seiten
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IPLEX G Lite
8 Seiten
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IPLEX GAir
8 Seiten
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Microscope Component Solutions
12 Seiten
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OLYMPUS Stream
16 Seiten
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DP74
8 Seiten
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SZX7
16 Seiten
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SZ61 SZ51 Brochure
24 Seiten
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SZX16 - SZX10
24 Seiten
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MX63/MX63L
20 Seiten
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CIX100
16 Seiten
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STM7 Series
24 Seiten
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LEXT OLS5000
42 Seiten
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Vanta Overview
8 Seiten
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Vanta™ Handheld XRF Analyzer
8 Seiten
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Vanta™ iX Systems
4 Seiten
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Vanta™ iX Brochure
4 Seiten
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DSX1000 Brochure
40 Seiten
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27MG
4 Seiten
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EX Series Instruments
4 Seiten
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OpenView SDK
3 Seiten
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Mini_Wheel_Encoder
2 Seiten