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FISCHERSCOPE X-RAY XDAL

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL

Zusammenfassung des Produktkatalogs
Einführung
Das FISCHERSCOPE X-RAY XDAL ist ein fortschrittliches Messsystem, das sich durch einen Peltier-gekühlten Silizium-PIN-Detektor auszeichnet, der eine bessere Energieauflösung bietet als das Proportionalzählrohr des XDLM. Es eignet sich für Materialanalysen, Spurenanalysen und die Messung dünner Schichten.
Technische Spezifikationen
  • Mikrofokus-Röntgenröhre mit W-Anode und Berylliumfenster.
  • Maximale Betriebsbedingungen: 50kV, 50W.
  • Peltier-gekühlte Silizium-PIN-Diode als Röntgendetektor.
  • Automatisch wechselbare Blende (Ø 0,1 mm bis Ø 0,6 mm) und Primärfilter.
  • Einstellbarer Messabstand von 0 – 80 mm.
  • Programmierbarer XY-Tisch und Videokamera zur Beobachtung der Messstelle.
  • Vollschutzgerät gemäß Deutscher Röntgenverordnung.
Anwendungsbereiche
  • Materialanalyse von Schichten und Legierungen, einschließlich dünner Beschichtungen.
  • Wareneingangskontrolle und Fertigungsüberwachung.
  • Forschung und Entwicklung in der Elektronikindustrie.
  • Messung dünner Au- und Pd-Schichten in der Leiterplattenfertigung.
  • Spurenanalyse und Bestimmung von Blei (Pb) in „high reliability“-Anwendungen.
Besondere Merkmale
Das XDAL verfügt über eine große Messkammer für komplexe Geometrien und eine motorisch verstellbare Z-Achse für Probenhöhen bis zu 140 mm. Es ist mit einem programmierbaren XY-Tisch ausgestattet, der Flächen im Mapping-Mode untersucht und Serienmessungen ermöglicht. Ein Laserpointer erleichtert das Positionieren der Probe.
Praktische Anwendung
Das Gerät wird zur Bestimmung von Pb in Lötzinnschichten eingesetzt, um die Konzentration von Pb im Zinn zu analysieren. Es erfüllt die Anforderungen der RoHS-Norm und ist für Anwendungen in der Luft- und Raumfahrttechnik geeignet.
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Katalogauszüge

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL-1

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® Das FISCHERSCOPE X-RAY XDAL Messsystem entspricht im Aufbau dem XDLM. Der Unterschied liegt in der Art des Detektors. Beim XDAL kommt ein Peltier-gekühlter Silizium-PIN-Detektor zum Einsatz, dessen Energieauflösung deutlich besser ist als die des Proportionalzählrohrs im XDLM. Damit ist dieses Gerät für die allgemeine Materialanalyse, die Spurenanalyse und für die Messung dünner Schichten geeignet. Als Röntgenquelle kommt eine Mikrofokusröhre zum Einsatz, mit der auch kleine Messflecke realisiert werden können. Das XDAL ist für sehr kleine Strukturen bzw. Messflecke jedoch nur bedingt geeignet, da aufgrund der kleineren aktiven Detektorfläche im Vergleich zum Proportionalzählrohr nur geringe Intensitäten gemessen werden. Um bei unterschiedlichen Messaufgaben jeweils die optimalen Anregungsbedingungen zu schaffen, können, wie auch beim XDLM, Blenden und Filter automatisch gewechselt werden. High reliability: Pb (>3%) in Elektronikkomponenten Das FISCHERSCOPE X-RAY XDAL hat eine große Messkammer, so dass auch Prüfteile mit komplexer Geometrie gemessen werden können. Die motorisch verstellbare Z-Achse erlaubt eine Probenhöhe bis zu 140 mm. Für große, flache Proben, wie z. B. Leiterplatten, hat das Gehäuse seitliche Aussparungen (C-Schlitz). Das Messsystem ist mit einem schnellen, programmierbaren XY-Tisch ausgestattet, so dass auf einfache Weise Flächen im Mapping-Mode untersucht werden können. Auch Serienmessungen an Bauteilen, wie z. B. Leadframes, oder die Messung mehrerer, auch unterschiedlicher Bauteile, können einfach programmiert und automatisch ausgeführt werden. Bestückte Leiteplatten: Bleifreiheit X-RAY Produktlinie

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FISCHERSCOPE X-RAY XDAL-2

Da mit Öffnen der Haube der XY-Tisch automatisch in die Beladeposition fährt (Zungenfunktion), ist das schnelle Positionieren der Probe äußerst einfach. Ein Laserpointer zeigt dabei die Messposition auf dem Prüfteil an. Beispiel aus der Praxis Das FISCHERSCOPE X-RAY XDAL wird zur Bestimmung von Pb in Lötzinnschichten eingesetzt. Dabei muss auch die Schichtdicke der SnPb-Beschichtung korrekt bestimmt werden, um die Konzentration von Pb im Zinn zu analysieren. Der Pb-Gehalt von Lötzinnlegierungen für "high reliability" Anwendungen in der Luft-, und Raumfahrttechnik muss mindesten 3 % betragen,...

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Alle Kataloge und technischen Broschüren von HELMUT FISCHER GMBH - INSTITUT FÜR ELEKTRONIK UND

  1. MMS-PC2

    16  Seiten

  2. SIGMASCOPE GOLD

    4  Seiten

  3. XAN250-252

    4  Seiten

  4. XAN220-222

    4  Seiten

  5. XAN Series

    36  Seiten

  6. PMP10 Duplex

    4  Seiten

  7. FMP100/150

    8  Seiten

  8. MP0/MP0R Series

    8  Seiten

  9. Probe catalogue

    12  Seiten

* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.