FISCHERSCOPE X-RAY XDAL
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Katalogauszüge

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL - 1

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® Das FISCHERSCOPE X-RAY XDAL Messsystem entspricht im Aufbau dem XDLM. Der Unterschied liegt in der Art des Detektors. Beim XDAL kommt ein Peltier-gekühlter Silizium-PIN-Detektor zum Einsatz, dessen Energieauflösung deutlich besser ist als die des Proportionalzählrohrs im XDLM. Damit ist dieses Gerät für die allgemeine Materialanalyse, die Spurenanalyse und für die Messung dünner Schichten geeignet. Als Röntgenquelle kommt eine Mikrofokusröhre zum Einsatz, mit der auch kleine Messflecke realisiert werden können. Das XDAL ist für sehr kleine Strukturen bzw. Messflecke jedoch nur bedingt geeignet, da aufgrund der kleineren aktiven Detektorfläche im Vergleich zum Proportionalzählrohr nur geringe Intensitäten gemessen werden. Um bei unterschiedlichen Messaufgaben jeweils die optimalen Anregungsbedingungen zu schaffen, können, wie auch beim XDLM, Blenden und Filter automatisch gewechselt werden. High reliability: Pb (>3%) in Elektronikkomponenten Das FISCHERSCOPE X-RAY XDAL hat eine große Messkammer, so dass auch Prüfteile mit komplexer Geometrie gemessen werden können. Die motorisch verstellbare Z-Achse erlaubt eine Probenhöhe bis zu 140 mm. Für große, flache Proben, wie z. B. Leiterplatten, hat das Gehäuse seitliche Aussparungen (C-Schlitz). Das Messsystem ist mit einem schnellen, programmierbaren XY-Tisch ausgestattet, so dass auf einfache Weise Flächen im Mapping-Mode untersucht werden können. Auch Serienmessungen an Bauteilen, wie z. B. Leadframes, oder die Messung mehrerer, auch unterschiedlicher Bauteile, können einfach programmiert und automatisch ausgeführt werden. Bestückte Leiteplatten: Bleifreiheit X-RAY Produktlinie

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FISCHERSCOPE X-RAY XDAL - 2

Da mit Öffnen der Haube der XY-Tisch automatisch in die Beladeposition fährt (Zungenfunktion), ist das schnelle Positionieren der Probe äußerst einfach. Ein Laserpointer zeigt dabei die Messposition auf dem Prüfteil an. Beispiel aus der Praxis Das FISCHERSCOPE X-RAY XDAL wird zur Bestimmung von Pb in Lötzinnschichten eingesetzt. Dabei muss auch die Schichtdicke der SnPb-Beschichtung korrekt bestimmt werden, um die Konzentration von Pb im Zinn zu analysieren. Der Pb-Gehalt von Lötzinnlegierungen für "high reliability" Anwendungen in der Luft-, und Raumfahrttechnik muss mindesten 3 %...

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Alle Kataloge und technischen Broschüren von HELMUT FISCHER GMBH - INSTITUT FÜR ELEKTRONIK UND

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  4. XAN Series

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