FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD Das FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD verfügt über einen Silizium-Drift-Detektor mit großer empfindlicher Fläche und guter Energieauflösung. In Kombination mit den großen Blenden lassen sich sehr hohe Zählraten realisieren. Mit dem XDV-SDD können daher sehr hohe Wiederholpräzisionen und sehr niedrige Nachweisgrenzen erreicht werden. Es eignet sich besonders zur Messung dünnster Schichten und zur Spurenanalyse. Durch die verbesserte Empfindlichkeit für Röntgenstrahlung mit niedriger Energie erweitert sich zudem der Bereich der messbaren Elemente hin zu niedrigeren Ordnungszahlen. Damit wird zum Beispiel die Messung von Elementen wie Phosphor oder Aluminium an Luft zuverlässig möglich. Schadstoffe in Metallen: Pb, Cd in Al-Legierung Um für jede Messung ideale Anregungsbedingungen mit maximaler Intensität zu schaffen, verfügt das XDVSDD über wechselbare Blenden und Primärfilter. Mit der großen und gut zugänglichen Messkammer eignet sich das XDV-SDD für Messungen an flachen, ebenen Teilen genauso gut wie für größere Prüfteile mit komplexer Geometrie. Serienprüfungen oder Messungen der Schichtdicken- und Elementverteilung können auf einfache Weise mit dem schnellen, programmierbaren XY-Tisch realisiert werden. Die einfache Bedienung, eine weit öffnende Haube und Bedienelemente an der Gerätefront erleichtern das tägliche Arbeiten mit diesem Gerät. X-RAY Produktlinie

Die präzise Festlegung der Messstelle wird mit einer hochauflösenden und vergrößernden Videokamera vereinfacht. Die Messposition wird während der Messung im Videobild gezeigt. Ein Laser-Pointer als Positionierhilfe unterstützt zusätzlich das schnelle Ausrichten der zu messenden Probe. Durch die Leistungsfähigkeit und die universelle Auslegung ist das XDV-SDD ideal für Forschung und Entwicklung, Prozessqualifizierung und Labor. Aber auch in der Qualitätssicherung und in der Fertigungsüberwachung hat es auf Grund seiner robusten Bauweise und der einfachen Bedienung einen festen Platz. Beispiel...