HIOKI IM3523/IM3533/IM3533-01 LCR HiTESTERs
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Für Produktionslinien, Forschung und Entwicklung LCR-Meter mit erweitertem Frequenzbereich Im Vergleich zu den Vorgängermodellen von HIOKI bieten die LCR-METER 3523(IM), 3533(IM) und 3533-01 (IM) eine verbesserte Leistungsfähigkeit und Funktionalität. Diese kosteneffizienten Messgeräte zeichnen sich durch eine hohe Grundgenauigkeit von ±0,05% und haben einen breiten Messfrequenzbereich von 1 mHz [40 Hz beim 3523 (IM)] bis 200 kHz. Zu den weiteren Funktionen gehören High-Speed-Messungen mit bis zu 2 ms, zuverlässige Kontaktprüfungsfunktion, wie auch Messungen des Windungsverhältnises und der Gegeninduktivität bei Transformatoren. Die Messgeräte dieser Serie eignen sich bestens für Applika- tionen in Produktionslinien und bei der Herstellung von LCR-Bauteilen, Transfor-

2 Für Produktionslinien Der perfekte Impedanz-Analysator Produktpalette 3533(IM), 3533-01(IM) 3523(IM) *1 Modell Forschung u. Entwicklung TransformatorVerwenund Spulen*1 dung Herstellung LCR-Komponenten-Herstellung - empfohlene Applikationen - besonders empfohlene Applikationen LCR-METER 3523(IM) LCR-METER 3533(IM) LCR-METER 3533-01(IM) Z Y θ Rs (ESR) Rp X G B Cs Cp Ls Lp D(tanδ) Q Grundmessparameter Messparameter Impedanz Leitwert Phasenwinkel Reihen-Ersatzwiderstand = ESR Parallel-Ersatzwiderstand Blindwiderstand Leitfähigkeit Blindleitwert Reihen-Ersatzkapazität Parallel-Ersatzkapazität...

4 Schnell, äußerst genau und einfach in Bedienung Basic Performance 3523(IM) ● Breiter Messfrequenzbereich Beim 3533(IM) kann die DC- oder Frequenzbandbreite im Bereich von 1 mHz (40 Hz beim 3523(IM)) bis 200 kHz in Hochauflösung 5-stellig eingestellt werden [Tests mit weniger als 100 Hz haben eine Auflösung von 1 mHz]. Somit ist die Messung der ResonanzFrequenz möglich. DC 1mHz IM3533 IM3533-01 DC 40Hz IM3523 200kHz 200kHz 3533(IM) 3533-01(IM) ● Grundgenauigkeit ±0.05% Die Grundgenauigkeit von Z beträgt ±0,05% und ist geeignet für einen breiten Applikationsbereich, von Bauteilen-Prüfung...

5 LCR-Meter 3523 (IM) - leicht integrierbar in Produktionslinien und Automationssysteme ● Allgemeine Daten - 3523(IM) Messparameter DCR TransformatorMessung Temperatur T Grundgenauigkeit Messfrequenz Messpannung Messzeit Komparator Messparameter ● Einfache Einstellung mit numerischer Tastatur in einer übersichtlichen schwarz/weiss-LCD-Anzeige 3523(IM) Einstellungen werden in einer kontrastreichen graphischen LCDAnzeige mit Hilfe von Funktionstasten und einer numerischen Tastatur vorgenommen. Numerische Werte für die Komparator-Einstellung können mit dem Ziffernblock am Gerät schnell und...

6 LCR-METER 3533(IM) Für Spulen- und Transformator-Herstellung ● Allgemeine Daten 3533(IM) Messparameter DCR MessTransformatorparameter Messung Temperatur T Grundgenauigkeit Messfrequenz Messpannung Messzeit Komparator BIN-Klassifizierung Kabellänge Kontaktprüfung Interne DC-Offset-Messung 3533(IM) ● Transformator-Messungen 3533(IM) 3533-01(IM) ● Gleichzeitige Anzeige von 4 Parameter (Normalmessung 3533(IM) ● BIN-Klassifizierung in 10 Stufen 3533-01(IM) 3533(IM) 3533-01(IM) 2 Messparameter können in 10 Stufen (und Out-of-Range) eingeordnet werden. Diese Funktion dient der Sortierung von...

7 LCR-METER 3533-01(IM) Für Forschung und Entwicklung (z.B. Elektrochemie) ● Allgemeine Daten 3533-01(IM) Messparameter Messparameter DCR TransformatorMessung Temperatur T Grundgenauigkeit Messfrequenz Messpannung Messzeit Komparator BIN-Klassifizierung Kabellänge Kontaktprüfung Interne DC-Offset -Messung ● Frequenz-Sweep 3533-01(IM) Die Frequenz-Sweep-Messungen werden automatisch für bis zu 801 Frequenzpunkte in einem definierten Frequenzbereich oder aus einer Liste durchgeführt. Die Messergebnisse können auf einem USBSpeichermedium oder einem PC über die USB-Schnittstelle gespeichert und...

i'i»"«' fii"i' Ü " :Ö" fl':"'TÄw"i KD IEHI' Kontinuierliche Messung mit hoher Geschwindigkeit unter verschiedenen gen können für Polymerkondensatoren durch- geführt werden. Dabei können verschiedene Mess- parameter kontinuierlich mit unterschiedlichen Messbedingungen (Frequenz, Pegel, Modus) gemessen werden. C-Messung an gepolten I^BgliiiM!SiM HAKE *m> 10» CHJV o.ooan Eine DC-Offset-Spannung kann gegebenfalls bei Messugen an gepolten Kondensatoren, wie z.B. Elektrolytkondensatoren, angelegt werden. Der 3533(IM)(-oi) kann C-D-Messungen mit einer ohne die optionale DC-Offset-Einheit zu...

9 Transformatorspulen und Sweep-Messung Vielfältige Transformatorspulen-Messfunktionen Zusätzlich zu den L-Q- und DCR-Messungen ermöglichen die 3533(IM) und 3533-01(IM) -Geräte Messungen des Windungsverhältnises N, der Gegeninduktivität M, und InduktivitätsDifferenz ΔL bei Transformatoren.* * V erbindungen müssen manuell geschaltet werden, oder es wird separat ein Wahltaster wie Scanner benötigt. N 3533(IM) 3533-01(IM) Messung der Windungsverhältnis N (1) L (L1) auf der Primärseite messen (2) L (L2) auf der Sekundärseite messen (3) Windungsverhältnis N aus L1 und L2 berechnen N = L1 L2 N :1...

10 PC-Anbindung Erfassung von Messdaten 3533(IM) ● USB-Port auf der Frontseite des Messgeräts (Messdaten speichern und laden) 3533-01(IM) Messergebnisse und -einstellungen können auf handelsüblichen USBSpeichermedien über einen Port auf der Frontseite des Messgeräts gespeichert werden. (Der USB-Port auf der Frontseite ist für USB-Speichermedien konzipiert. Sämtliche Messergebnisse werden zuerst im Internspeicher des 3533 (IM)/-01 gespeichert, und können dann auf einen USB-Speicherstick übertragen werden. Bei manchen USB-Speichermedien können allerdings Kompatibilitätsprobleme auftreten)....

11 Externer E-/A-Anschluß [EXT I/O] ● Externe E-/A-Schnittstelle (EXT I/O) Die externe E-/A-Schnittstelle (EXT I/O) ermöglicht die Ausgabe eines Mess-EndeSignals und Messergebnis-Signals, wie auch den Eingang von z.B. Triggersignalen für die Steuerung des Messgeräts. Jeder Signaleingang ist vom Steuerkreis isoliert, Störsignale werden unterdrückt. Für den Aufbau eines Steuersystems über die EXT I/O-Schnittstelle lesen Sie die Bedienungsanleitung. Beispiel einer EXT I/O-Zeitsteuerung (LCR-Modus) t1: Verzögerungszeit vom Komparator und BIN-Auswertung zum EOM (LOW): 40 μs oder länger *1 t2:...