1. Kataloge
  2. Hitachi High-Tech Europe GmbH
  3. Produktkatalog: REM, FIB, BIB, TEM

Produktkatalog: REM, FIB, BIB, TEM

Produktkatalog: REM, FIB, BIB, TEM

Zusammenfassung des Produktkatalogs
Einleitung

Der Produktkatalog 2024/2025 von Hitachi High-Tech präsentiert die neuesten Entwicklungen in der Elektronenmikroskopie, mit Fokus auf Feldemissions-Elektronenstrahlquellentechnologie.

Elektronenquellen

Hitachi bietet kalte Feldemitter, Schottky-Emitter und thermische Wolfram-Emitter an, die für verschiedene Anwendungen geeignet sind, von hochauflösenden Abbildungen bis zu schnellen Analysen.

Objektivlinsenarten

Die REM-Familien nutzen verschiedene Linsentypen, die Vorteile in Auflösung und Probenhandhabung bieten.

Air Protection

Ein Konzept zum Schutz empfindlicher Proben in einer Inertgasumgebung, wichtig für Materialien, die nicht mit der Atmosphäre in Kontakt kommen dürfen.

Produktlinien

Der Katalog umfasst Tisch- und Kompakt-REM, fokussierte Ionenstrahlsysteme, TEMs und Systeme zur Probenvorbereitung, jeweils auf spezifische Anwendungen zugeschnitten.

Besondere Merkmale

Die Systeme bieten hochauflösende Elektronenoptik, integrierte EDX-Analyse und fortschrittliche Detektortechnologien für präzise Analysen.

Produktmerkmale und Spezifikationen

Die SU3800/SU3900 REMs bieten hohe Auflösung und flexible Probenhandhabung, geeignet für Vergrößerungen bis zu mehreren zehntausendfach.

Probenhandhabung und -analyse

Die Mikroskope verfügen über eine euzentrische Probenbühne und optionale Air Protection für luftdicht gekapselte Proben.

Technologische Erweiterungen

Automatische Justagefunktionen und variabler Kammerdruck sind Standard, unterstützt durch Analysetechniken wie EDX und EBSD.

Software und Zubehör

Umfangreiches Zubehör und Softwareerweiterungen ermöglichen flexible Automatisierung von Routinearbeiten.

Besondere Anwendungen

Das SU9000 II Modell kombiniert REM mit STEM für extreme Auflösungen.

Hauptmerkmale der Systeme
  • SU9000 II: REM-STEM-Kombination mit extrem hoher Auflösung.
  • MirrorCLEM: Software zur Korrelation von Licht- und Elektronenmikroskopie.
  • ACAT: Automatisierte Aufnahme von Schnittserien.
  • EM Flow Creator: Automatisierung von Arbeitsabläufen ohne Programmierkenntnisse.
  • NX5000 „ETHOS“ FIB-REM Plattform: Optimiert für TEM Lamellenherstellung.
  • HT7800 TEM/STEM: Unterstützt Anwendungen von Lebens- bis Materialwissenschaften.
  • HF5000 TEM: Cs-korrigiertes S/TEM für in-situ Experimente.
Zubehör und Erweiterungen
  • EDX- und EELS-Detektoren für Elementanalysen.
  • In-situ Halter für Experimente mit Gasen und Temperaturen.
  • Automatisierungstools für Prozessoptimierung.
Fazit

Die Systeme bieten flexible Anpassung an spezifische Forschungsanforderungen, geeignet für hochauflösende Analysen und Automatisierung von Routinearbeiten.

Probenvorbereitung und Querschnittspräparation

Die IM Serie unterstützt REM Probenvorbereitung mit Argon-Ionen Poliersystemen und flexibler Anpassung der Ionenstrahlparameter.

Reinigungstechnologien

ZONE Reiniger bieten eine sanfte Alternative zur Plasmareinigung, basierend auf UV-Licht und freien Sauerstoffradikalen.

Erweiterte Funktionen und Zubehör
  • Flatmilling Ausrüstung für Schliffe bis 50mm Durchmesser.
  • Inertgas-Transferfunktion für Querschnitte und Oberflächenpolituren.
  • Optimierte Cryo Querschnittshalter für präzise Cryo Prozesse.
Kontaktinformationen

Für weitere Informationen und Support stehen die Kontaktstellen in Deutschland, Österreich und der Schweiz zur Verfügung.

Mehr anzeigen

Katalogauszüge

Produktkatalog: REM, FIB, BIB, TEM-2

Hitachi’s Welt der Elektronenmikroskopie In dieser Übersichtsbroschüre stellen wir Ihnen, nach Produktklassen geordnet, die breite Palette der Elektronenmikroskopie aus dem Haus Hitachi vor. Lassen Sie sich inspirieren von der Vielfalt unterschiedlicher Geräte, mit denen sich auch Ihre Anwendung zuverlässig abdecken lässt! 1969 begann Hitachi mit der Entwicklung der FeldemissionsElektronenstrahlquellentechnologie (FE). In nur drei Jahren entwickelte Hitachi erfolgreich ein FE-REM, indem es eine praktische FE-Technologie schuf. Seitdem wird die FE-Technologie von Hitachi seit mehr als 40 Jahren...

 Katalog auf Seite 2 öffnen
Produktkatalog: REM, FIB, BIB, TEM-3

Elektronenquellen in den Hitachi REM Familien Thermische Wolfram Emitter Die bevorzugte Wahl für generelle Anwendungen von Abbilden bis Analysieren. Material olfram-Draht mit scharfer Krümmung W zum Ausformen einer Spitze Objektivlinsenarten in den Hitachi REM Familien Elektronenstrahl Magnetische Linse Virtueller Quellendurchmesser ein magnetisches Feld ein, was das Mikroskopieren verschiedenster Probentypen industriellen Routineumfeld zum Einsatz, wo Strukturen Thermische Emitter liefern sehr hohe Probenströme bis in den Mikro- Ampere-Bereich und sind daher auch für schnelle automatisierte...

 Katalog auf Seite 3 öffnen
Produktkatalog: REM, FIB, BIB, TEM-4

Probenhandhabung unter Inertgasbedingungen Air Protection Leicht oxidierende oder hygroskopische Probenmaterialien dürfen zum Erhalt ihrer Eigenschaften nicht mit der Atmosphäre in Kontakt kommen. Sie erfordern daher sowohl vor, als auch besonders nach der Präparation als Querschnitt oder Oberflächenschliff auf dem Weg zum REM eine strikte Handhabung in einer Inertgasumgebung. Die Geräte der IM Serie wie auch die Hitachi REM können im Rahmen von Hitachi‘s „air protection“ Konzept so ausgerüstet werden, dass eine vollständige Handhabung unter Schutzgasatmosphäre jederzeit gewährleistet ist. Alle...

 Katalog auf Seite 4 öffnen
Produktkatalog: REM, FIB, BIB, TEM-5

optimale Elektronenoptik Fokussierte Ionenstrahlsysteme

 Katalog auf Seite 5 öffnen
Produktkatalog: REM, FIB, BIB, TEM-7

1 Thermische Wolfram Emitter VP-REMs mit thermischer Elektronenquelle REM Abbildung und Elementanalyse in Minutenschnelle Kupfer-Sulfid Kristalle. 5kV, SE Signal Korrodierter Kupferdraht. 10kV, SE Signal Al Kosmetik Puder, EDX Analyse. 15kV Profi-EDX mit Sensorgrößen bis 65mm2 Automatische MehrbereichsBildaufnahmen („Multi-zigzag“) Automatisierung via Python Scripting oder EM Flow Creator Hitachi Map 3D Pakete für Zusatzfunktionen wie 3D Rekonstruktion, Rauigkeitsmessung, Partikel- und Porenanalysen, Bildbearbeitung, Farbsegmentierung, etc Produktmerkmale EDX mit 30mm2 oder 60mm2 Sensorgröße...

 Katalog auf Seite 7 öffnen
Produktkatalog: REM, FIB, BIB, TEM-8

1 Thermische Wolfram Emitter VP-REMs mit thermischer Elektronenquelle Volle REM-Funktionalität im kompakten intuitiven Design Optionales Zubehör itachi Map 3D Pakete H für Zusatzfunktionen wie 3D Rekonstruktion, Rauigkeitsmessung, Partikelanalysen, Bildbearbeitung und Farbsegmentierung, etc. sind optional Produktmerkmale 4nm @ 20kV Hochauflösende Elektronenoptik mit Strahlenergien zwischen 300eV und 20keV Hoch- und regelbares Niedervakuum bis 100Pa SE und 4+1 Segment Rückstreu-detektor Standard, Niedervakuum SE optional (UVD); auch für Kathodolumineszenz sowie STEM Abbildungen nutzbar, Optische...

 Katalog auf Seite 8 öffnen
Produktkatalog: REM, FIB, BIB, TEM-10

Thermische Wolfram Emitter Modulare VP-REM Plattform | 2 Probenkammern | 2 Elektronenoptik-Typen SU3800 Proben bis 229mm Durchmesser können vollständig begutachtet werden (SU3900) Fokussierte Ionenstrahlsysteme Profi Analysezubehör (EDX, EBSD, µ-XRF, CL, …) Probenschleusen, auch für Inertgas-Transfer Spezialisierte Vielfach Proben- und Filterhalter Hitachi Map 3D Pakete für Zusatzfunktionen wie 3D Rekonstruktion, Rauigkeitsmessung, Partikel- undPorenanalysen, Bildbearbeitung, Farbsegmentierung, etc Flexible und effektive Automatisierung von Routinearbeiten via EM Flow Creator Für den perfekten...

 Katalog auf Seite 10 öffnen
Produktkatalog: REM, FIB, BIB, TEM-11

2 Thermische Wolfram Emitter Zwei Probenkammern / euzentrische Bühnen: Zwei Elektronenoptiken: Wolfram Glühkathode Schottky Emitter Schottky Feldemitter Ist die vielfältig einsetzbare Standard Variante der Produktfamilie. Die große analytische Probenkammer mit der für schnelle Probenwechsel vollständig herausziehbaren euzentrischen Probenbühne nimmt Proben mit bis zu 200mm Durchmesser und 80mm Höhe (im analytischen Arbeitsabstand) auf. Die maximale Probenmasse von 2kg kann mit allen 5 Tisch-Achsen bewegt werden. Ist mit der um 150mm x 150mm verfahrbaren euzentrischen Probenbühne die robuste Lösung...

 Katalog auf Seite 11 öffnen
Produktkatalog: REM, FIB, BIB, TEM-12

SU9000 II 34 MirrorCLEM Software Erweiterungen

 Katalog auf Seite 12 öffnen
Produktkatalog: REM, FIB, BIB, TEM-13

Hochauflösende Feldemissions REM Schottky Emitter Kalter Feldemitter Hoch- und Höchstauflösende Feldemissions-REM Hitachi‘s hochstauflösende Schottky VP FE-REM stehen in zwei Versionen zur Auswahl, die sich hinsichtlich der Probenkammer und Probenbühne unterscheiden: Hitachi‘s bewährter kalter Feldemitter mit seiner scharfen Spitze, schmalbandigen Emission und langen Lebensdauer treibt zwei auf Höchstauflösung und spezielle Analytik optimierte REM an: eine Probe zugänglich. Auch EDX Analysen lassen sich beim Standard-Arbeitsabstand von 6mm in kürzester Zeit ausführen. Zum Erreichen hoher Auflösungen...

 Katalog auf Seite 13 öffnen
Produktkatalog: REM, FIB, BIB, TEM-14

Schottky Emitter Booster Ratte Großhirnrinde* Erfassung verschiedener Signale Die Ausscheidungen entlang der Korngrenzen sind bei der Erfassung von SE-Bildern mit dem UD deutlich sichtbar (oberes Bild), während Korngröße und Verformung bei der Erfassung des BSE-Kanalisierungskontrasts leicht zu erkennen sind (unteres Bild). Hi-Pixel Auflösung Das rote rechteckige Feld im oberen Bild wird im unteren Bild mit einer höheren digitalen Vergrößerung dargestellt. Die Strukturen des Originals sind deutlich sichtbar und die hohe Qualität bleibt erhalten. Bild mit hoher Pixelauflösung bis zu 40 960 x 30...

 Katalog auf Seite 14 öffnen
Produktkatalog: REM, FIB, BIB, TEM-15

Perfekte Balance zwischen Abbildung und Analyse Schottky Emitter Booster 150mm Prober-Shuttle Kleindiek PS8e auf der herausgezogenen SU7000 Bühne Mesoporöses Silizium Spannungskontrast auf einem chip SU7000 richtet sich an Anwender mit auch großen oder schwereren Proben und Bedarf für die Brilliante Abbildungsleistungen - ohne Notwendigkeit für ein Gegenfeld an der Probe - von 100V (10V Option) bis zu 30kV Beschleunigungsspan-nung Optionales Zubehör Große analytische Probenkammer mit vielen Zugangsports für Zubehör, und einer euzentrischen Probenbühne für Proben bis 80mm Höhe und 200mm Durchmesser...

 Katalog auf Seite 15 öffnen
* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.