Interferometrische Messsysteme für die Ebenheitsprüfung von Präzisionsteilen TOPOS Ebenheitsmessgerät für die schnelle, berührungslose Ebenheitsmessung

TOPOS Ebenheitsmessgeräte ermöglichen die berührungslose Ebenheitsprüfung von geläppten, feingeschliffenen und polierten Präzisionsteilen. Vorteile des TOPOS Ebenheitsmessgeräts: • hochgenaue und schnelle Messung bei hoher Messpunktezahl • Öl oder andere Bearbeitungsmittel können nicht auf das Prisma gelangen bzw. in das Ebenheitsmessgerät eindringen • Geräte eignen sich für den Betrieb in der Fertigung in der Nähe der Bearbeitungsmaschine • durch geringe Messzeiten sind die Geräte für die 100% Kontrolle geeignet • intuitive Software ISA, die eine leichte Bedienung des Gerätes ermöglicht Spezifikationen...

SPI Sichtprüfinterferometer ermöglichen die visuelle Ebenheitsprüfung geläppter, feingeschliffener und polierter Oberflächen. PGI Planglasinterferometer ermöglichen die visuelle Ebenheitsprüfung von polierten Oberflächen. Vorteile der Sichtprüfinterferometer: • breites messbares Teilespektrum: sowohl matte, als auch polierte Teile können gemessen werden • Software Intdok ermöglicht die Dokumentation und erleichtert die Auswertung Messung mit SPI und PGI: Die Teile werden zur Prüfung auf eine Glasfläche bzw. auf das Planglas an der Oberseite des Prüfgerätes gelegt. Teil und Lichtbänder werden...

zur Auswertung/ Dokumentation von Streifenbildern Auswertungssoftware ISA für TOPOS Ebenheitsmessgeräte Vorteile der ISA Software: Ÿ Erhalt von konkreten Ebenheitswerten, wodurch Messungen vergleichbar und quantifizierbar werden Ÿ Die Topographie des Teils kann in verschiedenen Grafiken dargestellt werden (Messblatt, Falschfarbenbild, Reliefbild, etc.) Ÿ Anbindung an Statistik- und QS-Programme: Ausgabe der Messergebnisse als Messreihe in einem CSVDatenformat oder im AQDEF-Datenformat Intdok-Software zur Dokumentation von Streifenbildern aus SPI und PGI Vorteile der Intdok-Software: Ÿ Darstellung...

Bei großen Flächen stellen Wirtschaftlichkeit und technische Realisierbarkeit ein Problem für das Messen der Ebenheit dar. Zudem nimmt die Ortsauflösung bei größer werdendem Messfeld ab, was speziell bei schmalen Ringen die Eignung des Messverfahrens einschränkt. Als Lösung dieses Problems bietet sich die Messung von aufeinander folgenden Teilbereichen mit einem Drehtisch bei Ringen und einem Kreuztisch bei Flächen an. Das Stitching-Verfahren fügt die Gesamtfläche rechnerisch aus den Einzelmessungen zusammen. Es zeichnet sich durch eine hohe Wirtschaftlichkeit bei kurzen Messzeiten aus.

Lasermesstechnik GmbH individuelle Anpassungen der Geräte an Produktionsabläufe Ÿ eigene Entwicklung und Fertigung Technische Änderungen vorbehalten: Stand April 2017