ROUTINEABLÄUFE MIT EFFIZIENZ UND KOMFORT OPTIMIEREN Visoria M Materialmikroskop

Profitieren Sie bei Ihren täglichen Mikroskopieabläufen von Effizienz und Komfort. Das Visoria M Materialmikroskop ist für Anwendungen in der Metall-, Elektronik- und Polymerindustrie sowie für Labore der Materialwissenschaft konzipiert. Optimieren Sie Ihre Arbeitsabläufe mit codierten Funktionen, optimierten Lichteinstellungen und anderen Mikroskopfunktionen. Dank des ergonomischen Designs des Mikroskops können Sie auch bequemer arbeiten und Belastungen minimieren. Das digitale Materialmikroskop Visoria M ohne Okulare bietet eine Reihe von Vorteilen. Ohne Okulare direkt digital arbeiten > Arbeiten...

EFFIZIENZ DURCH CODIERTE FUNKTIONEN Steigern Sie die Effizienz Ihrer routinemäßigen Mikroskopieaufgaben. Sparen Sie wertvolle Zeit mit vereinfachter Dokumentation und codierten Mikroskopfunktionen, sodass Sie sich auf Ihre Probe konzentrieren können. Zeiteinsparung mit optimierten Beleuchtungseinstellungen Verbringen Sie mit Visoria M mehr Zeit mit der eigentlichen Beobachtung und Untersuchung von Proben. Wenn Sie die Vergrößerung oder die Kontrastmethode des Mikroskops ändern, müssen Sie die Helligkeit dank der Lichtmanagementfunktion nicht manuell anpassen. Die Beleuchtungseinstellungen werden...

MEHR KOMFORT DURCH ERGONOMIE Arbeiten Sie in einer bequemen Körperhaltung, indem Sie die symmetrische Anordnung der Bedienelemente und ergonomischen Zubehörteile nutzen. Diese Funktionen helfen, Belastungen von Nacken und Rücken zu verringern, auch bei langen Arbeitstagen am Mikroskop. Dauerhaft komfortabel arbeiten Visoria M passt sich an Ihre Anforderungen an – es ermöglicht eine angemessene Körperhaltung und verringert die Belastung von Nacken und Rücken bei langen Arbeitsphasen am Mikroskop. Dank der symmetrischen Anordnung und der Höhenverstellung der Bedienelemente für Fokus und Tischposition...

GESTÜTZT DURCH DIE ENERSIGHT SOFTWAREPLATTFORM Vereinfachen und optimieren Sie Ihre Arbeitsabläufe mit dem Materialmikroskop Visoria M und der Softwareplattform Enersight. Sie hilft Ihnen, Daten über eine einzige, intuitive Benutzeroberfläche zu vergleichen, zu messen und weiterzugeben. Links: Digitales Materialmikroskop Visoria M mit Flexacam i5-Kamera und Enersight Software. Hauptvorteile: > Ermitteln der Dicke von Beschichtungen oder Materialschichten mithilfe der Funktion zur Schichtdickenmessung. > Beobachtung von Proben mit einem größeren Sichtfeld und höherer Auflösung mithilfe von XY-Stitching...

Das Visoria M wurde für Routineüberprüfungen in den Bereichen Qualitätskontrolle, Fehleranalyse und Forschung & Entwicklung in der Metall-, Elektronik- und Polymerindustrie sowie für Labore der Materialwissenschaft konzipiert. Visualisieren von Probendetails mit dem passenden Kontrast Für industrielle Anwendungen und Materialprüfungen sowie für Einsätze in Forschung & Entwicklung ermöglicht das Visoria M die detaillierte Betrachtung von Strukturen und Defekten wie Kratzern oder Verunreinigungen auf Ihren Proben. Es verwendet eine Reihe von Beleuchtungs- und Kontrastmethoden, wie Hellfeld, Dunkelfeld,...

MIKROSKOP-KONTRASTMETHODEN UND IHRE ANWENDUNGEN Visualisieren und analysieren Sie mit dem Materialmikroskop Visoria M Proben Ihrer Teile, Komponenten und Materialien effizient mithilfe verschiedener Kontrastmethoden. In Anwendungen der Elektro-, Metallund Polymerindustrie können Sie Oberflächenstrukturen mit Hellfeld, Dunkelfeld, DIC, Polarisierung und Schräglicht darstellen. Das Visoria M kann für verschiedene Routineüberprüfungen bei Qualitätskontrolle, Fehleranalyse und Forschung und Entwicklung verwendet werden. Hellfeld (HF) Messung von Probenfunktionen mit Auflicht-Hellfeld-Kontrast. Dunkelfeld...

Elektronikindustrie Optimieren Sie Ihre Routineüberprüfungen zur Qualitätskontrolle in der Elektroindustrie mit dem Materialmikroskop Visoria M. Nutzen Sie die Möglickeiten verschiedener Kontrasttechniken einschließlich Hellfeld, Dunkelfeld, Schräglicht, differentiellem Interferenzkontrast (DIC) und Polarisation. Diese Methoden ermöglichen Ihnen, die Details bei der Untersuchung von PCBs, Mikrochips und mikroelektronischen Baugruppen deutlich darzustellen. Sie können kleine Defekte und Unregelmäßigkeiten an den Produktproben mit dem Visoria M erkennen und so Ihre Untersuchungsabläufe verkürzen...

Materialien und Metalle Das Visoria M unterstützt Sie bei Routineüberprüfungen für Anwendungen mit Materialien und Metallen. Es ermöglicht die Erkennung und Lokalisierung spezifischer Probenstrukturen und -defekte. Bei der Erfassung und Dokumentation von Makrostrukturen erreichen Sie mithilfe des 0.7x Makroobjektivs eine große Übersicht der Probe. Wechseln Sie problemlos zwischen Vergrößerungsfaktoren und Kontrastmethoden, um die wichtigen Strukturen Ihrer Proben für die Qualitätskontrolle und Fehleranalyse zu visualisieren. Querschnitt eines beschichteten Gewindes

Verbundmaterialien Enthüllen Sie mit dem Visoria M das volle Potenzial von Vebundmaterialien, die für ihre hohe Stabilität und ihr geringes Gewicht bekannt sind. Das Mikroskop wurde für Routineüberprüfungen und Qualitätskontrolle entwickelt. Das Visoria M bietet verschiedene Kontrasttechniken, die die Darstellung komplexer Details und die Feinerkennung während der Inspektion erleichtern, wodurch sichergestellt wird, dass Ihre Materialien die Qualitätsstandards erfüllen. Verbundmaterial, 10x, DF

MC-0010391 • 19.02.2025 • DE • Copyright © 2025 by Leica Microsystems GmbH. LEICA und das Leica Logo sind eingetragene Marken der Leica Microsystems IR GmbH Technische Daten des Visoria M Leica Microsystems GmbH | Ernst-Leitz-Straße 17-37 | 35578 Wetzlar Tel.: +49 (0) 6441 29-0 | Fax: +49 (0) 6441 29-2599