Das Visoria M Materialmikroskop eignet sich für Rountineuntersuchungen in der Metall-, Elektronik- und Polymerindustrie sowie für Material- und Forschungslabore. Wenn Sie bereits ein DM2500, DM2700 oder DM2700 P Standmikroskop haben, können Sie auf ein Visoria upgraden, ohne den vollen Preis eines neuen Mikroskops zahlen zu müssen. Das bedeutet, dass Sie weder einen neuen Tisch, noch neue Objektive, Filter, Tuben oder Okulare benötigen. Ihre aktuellen Komponenten sind vollumfänglich mit dem Visoria kompatibel. Der Visoria Tisch ist in herkömmlicher Konfiguration (mit Okularen) oder digital erhältlich. > Zeiteinsparung mit optimierten Beleuchtungseinstellungen. Die Beleuchtungsmanagementfunktion passt die Helligkeit automatisch an, wenn Sie die Vergrößerung oder Kontrastmethode ändern. > Bedienen Sie Ihr Mikroskop mit Leichtigkeit - Finden Sie mit der Farbkodierung schnell die richtige Blendenöffnung und das richtige Objektiv. Der eingebaute Fokusstopp schützt Proben und Objektive und das 3-stufige Einstellungssystem ermöglicht eine feinere Fokussierung bei stärkerer Vergrößerung. > Verringern Sie das Risiko für Belastungen und wiederkehrende Verletzungen bei langen Arbeitsphasen am Mikroskop und minimieren Sie sich wiederholende Bewegungen mit den Visoria Mikroskopen, indem Sie die Höhe und das Drehmoment der Tischsteuerung anpassen. > Die Knöpfe für die Steuerung der XY-Tischposition und des Fokus der Visoria Mikroskope liegen nahe beieinander und lassen sich leicht mit nur einer Hand verstellen. > Die Bedienung des Mikroskops lässt sich problemlos von Rechts- auf Linkshandbedienung umstellen. Dies ist besonders hilfreich, wenn das Mikroskop von mehreren Personen genutzt wird. > Vereinfachte Dokumentation. Bilderfassung auf Knopfdruck und automatische Speicherung der Systemeinstellungen mit den Bildern. Die Enersight Software-Plattform unterstützt Sie bei Vergleich, Messung und nahtloser Teilung mit einer einzigen intuitiven Oberfläche. > Betrachten Sie Proben mit einem größeren Sichtfeld und einer höheren Auflösung für die 2D-Stitching-Funktion. > Erfassung scharfer Bilder von Proben mit erweiterter Tiefenschärfe (EDOF). > Wählen Sie mit der Best Image-Funktion Ihre optimale Beleuchtung und Kameraparameter. > Bestimmen Sie die Dicke von Beschichtungen mit der Funktion zur Schichtdickenme
Katalog auf Seite 1 öffnenMC-0010662 • 18.03.2025 • DE • Copyright © 2025 by Leica Microsystems GmbH. Änderungen Vorbehalte LEICA und das Leica Logo sind eingetragene Marken der Leica Microsystems IR GmbH. Leica Microsystems GmbH | Ernst-Leitz-Straße 17-37 | 35578 Wetzlar Tel.: +49 (0) 6441 29-0 | Fax: +49 (0) 6441 29-2599 Technische Daten des Visoria M
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