Leica Universalbasis XL Ein Maximum an Platz für ein Maximum an Leistung Mit der neuen Universalbasis XL untersuchen Sie selbst größte Proben bei hohen Vergrößerungen.

Der nötige Freiraum für Ihre Arbeit ANFORDERUNG Große industrielle Proben wie z.B. Leiterplatten, 300 mm-Wafer oder Zylinder sind zu sperrig, um ohne Präparation unter her- kömmlichen Auflichtbasen untersucht zu werden. Auch Schwen- karmstative stoßen trotz ihres großen Schwenkbereichs schnell an ihre Grenzen: Hochleistungs-Stereomikroskope wie das • 2 Erdungsbuchsen gegen elektrostatische Aufladung Leica M205 A erreichen bereits mit einer Standardkonfiguration (1.0 × PlanApo, 10 × Okulare) eine Totalvergrößerung von 160 ×. • XL Extension unterstützt Codierung und Motorisierung der Hochleistungsinstrumente...

10 450 034 Leica M125, 12.5:1 Zoomsystem, apochromatisch 10 450 035 Leica M165 C, 16.5:1 Zoomsystem, apochromatisch, codiert 10 450 036 Leica M205 C, 20.5:1 Zoomsystem, apochromatisch, codiert, mit FusionOptics™ 10 450 037 Leica M205 A, 20.5:1 Zoom, apochromatisch, motorisiert, mit FusionOptics™ 10 450 050 Motorfokus mit Profilsäule 420 mm 10 450 258 Motorfokus mit Profilsäule 620 mm 10 450 104 Mikroskopträger für Optikträger der MZ-Serie 10 450 106 Mikroskopträger für Optikträger der M / S / Z-Serie 10 450 260 Universalplatte XL für Proben bis 370 × 400 mm 33 000 595 XL-Gleittischfür Proben...