Interferometer
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INTERFEROMETER VI-direct Vielseitige Interferometer für die Qualitätskontrolle

INTERFEROMETER VI-direct Ideal für Produktion und Qualitätskontrolle Interferometer sind ein unverzichtbares Messwerkzeug für die Fertigung und Qualitätskontrolle von optischen Bauteilen und Systemen. Ihre Einsatzgebiete reichen von der Prüfung der Ebenheit und Sphärizität von Oberflächen über die Radienmessung bis hin zur Prüfung der optischen Wirkung von optischen Systemen. Steckbrief der Produktreihe Interferometer VI-direct: n n n n n n n n n Funktionsprinzip: Fizeau-Interferometer Kostengünstige Alternative zu konventionellen Interferometern Digital-Kamera mit hoher lateraler Auflösung...

INTERFEROMETER VI-direct Typische Anwendungen Ebenheitsmessung von Oberflächen Dieser Aufbau wird zur Messung der Ebenheit der Oberfläche von planoptischen Komponenten wie z.B. Spiegeln, Prismen und Plangläsern verwendet. Für diesen Aufbau werden eine Referenzplatte, eine Prüflingsaufnahme, wie z.B. eine selbstzentrierende Halterung, sowie eine zweiachsige Kippeinrichtung benötigt. Wellenfrontbestimmung und Keilwinkelmessung an planoptischen Komponenten Dieser Aufbau wird zur Messung der Wellenfrontabweichung von planoptischen Komponenten und zur Keilwinkelmessung verwendet. Für diesen...

MICRO-INTERFEROMETER VI-direct Mit freier Apertur 3,6 mm Bezeichnung Micro-Interferometer VI-direct Laser He-Ne-Laser (nicht stabilisiert) Das Micro-Interferometer VI-direct erweitert den Bereich der Planoptikprüfung hin zu kleinsten Durchmessern von ca. 0,8 mm bis 3,6 mm. Das kostengünstige Micro-Interferometer VI-direct kann zur Prüfung von kleinsten Komponenten, wie z.B. Mikroprismen, Laserkristallen, Faserenden usw., verwendet werden. Im Lieferumfang enthalten ist der He-Ne-Laser mit Wellenlänge 632,8 nm (nicht stabilisiert). Direkter Anschluss an einen PC über USB 3.0 Port, kein...

Typische Prüflinge Optisches Zubehör Mechanisches Zubehör Bezeichnung Vertikalstativ D40 mit Kipptisch Vertikalstativ D40 mit Kipptisch und Phasenschieber

INTERFEROMETER VI-direct Mit freier Apertur 10, 16 und 28 mm L=65 für direct 10 für direct 16 L=118 für direct 28 Bezeichnung Interferometer VI-direct 10 Interferometer VI-direct SL 10 Interferometer VI-direct 16 Interferometer VI-direct SL 16 Interferometer VI-direct 28 Interferometer VI-direct SL 28 Laser He-Ne-Laser (nicht stabilisiert) He-Ne-Laser (stabilisiert) He-Ne-Laser (nicht stabilisiert) He-Ne-Laser (stabilisiert) He-Ne-Laser (nicht stabilisiert) He-Ne-Laser (stabilisiert) Die Interferometer VI-direct mit freier Apertur 10, 16 und 28 mm ermöglichen die Prüfung von Optiken mit...

Optisches Zubehör Bezeichnung Referenzplatte D16; λ/30 p-v Referenzplatte D28; λ/30 p-v Bezeichnung Adapter M36 x 0,75 auf Bajonett D70 Bezeichnung Vertikalstativ D40 mit Kipptisch Vertikalstativ D40 mit Kipptisch und Phasenschieber Info: Die Interferometer können auch mit Referenzoptiken anderer Hersteller verwendet werden, z.B. mit dem Adapter M36 x 0,75 auf Bajonett D70 (andere Adapter auf Anfrage möglich). Mechanisches Zubehör Bezeichnung Höhenverstellbares Vertikalstativ D40 mit Kipptisch Höhenverstellbares Vertikalstativ D40 mit XY- und Kipptisch Höhenverstellbares Vertikalstativ D40...

INTERFEROMETER VI-direct Mit freier Apertur 50 mm Bezeichnung Interferometer VI-direct 50 Interferometer VI-direct SL 50 Laser He-Ne-Laser (nicht stabilisiert) He-Ne-Laser (stabilisiert) Das Interferometer VI-direct mit freier Apertur 50 mm ermöglicht die Prüfung von Optiken mit einem Durchmesser von 12 bis 50 mm. Im Lieferumfang enthalten ist der He-Ne-Laser mit Wellenlänge 632,8 nm. Direkter Anschluss an einen PC über USB 3.0 Port, kein Framegrabber erforderlich Digital-Kamera mit hoher Auflösung (3088 x 2076 Pixel) Vibrationsunempfindlich durch kurze Belichtungszeit (bei...

Optisches Zubehör Info: Eine Übersicht für die richtige Objektiv-Wahl finden Sie auf Seite 12. Objektive mit anderen Radien sind auf Anfrage möglich. Die Interferometer können auch mit Referenzoptiken anderer Hersteller verwendet werden z.B. mit dem folgenden Adapter (andere Adapter auf Anfrage möglich). Bezeichnung Fizeau-Objektiv R40 Fizeau-Objektiv R80 Fizeau-Objektiv R120 Fizeau-Objektiv R300 Bezeichnung Adapter M60 x 1,0 auf Bajonett D70 Bezeichnung Vertikalstativ D65 mit Kipptisch Vertikalstativ D65 mit Kipptisch und Phasenschieber Mechanisches Zubehör Bezeichnung Höhenverstellbares...

INTERFEROMETER VI-direct Mit freier Apertur 100 mm Bezeichnung Interferometer VI-direct 100 Interferometer VI-direct SL 100 Laser He-Ne-Laser (nicht stabilisiert) He-Ne-Laser (stabilisiert) Das Interferometer VI-direct mit freier Apertur 100 mm ermöglicht die Prüfung von Optiken mit einem Durchmesser von 25 bis 100 mm. Im Lieferumfang enthalten ist der He-Ne-Laser mit Wellenlänge 632,8 nm. Direkter Anschluss an einen PC über USB 3.0 Port, kein Framegrabber erforderlich Digital-Kamera mit hoher Auflösung (3088 x 2076 Pixel) Vibrationsunempfindlich durch kurze Belichtungszeit (bei...

Optisches Zubehör Bezeichnung_Art.-Nr. Info: Das innovative Fizeau-Objektivsystem ermöglicht durch die Kombination eines optischen Konnektors und eines zugehörigen Fizeau-Objektives einen deutlich erweiterten Messbereich und eine 60% bessere Ausleuchtung im Vergleich zu klassischen Fizeau-Objek-tiven. Es wird ein optischer Konnektor benötigt, der mit allen Fizeau-Objektiven kombinierbar ist. Das Prinzip und die Auswahlhilfe ist auf Seite 13 dargestellt. Auf Anfrage können auch Fizeau-Objektive anderer Hersteller eingesetzt werden. Plan-Objektiv D130* 244 770 Optischer Konnektor 244 760...

INTERFEROMETER VI-direct Auswahl des Fizeau-Objektivs Für die Prüfung von sphärischen Flächen werden sogenannte Fizeau-Objektive eingesetzt. Diese erzeugen eine Referenzwelle, gegen die sphärische Prüflinge interferometrisch geprüft werden können. Die Fizeau-Objektive gibt es mit verschiedenen Radien (R (Fizeau) ) und nutzbaren Durchmessern (D (Fizeau) ). Damit die gesamte zu prüfende sphärische Fläche gemessen werden kann, muss folgende Bedingung erfüllt sein: Zur Objektivauswahl für die jeweilige Prüfaufgabe können die nachfolgenden Grafiken und Tabellen verwendet werden. Fizeau-Objektive...