Gruppe: NIKON GROUP
Katalogauszüge
Berührungsloses 3D-Oberflächenprofilometer mit extrem hoher Vertikalauflösung BW-S500/BW-D500 Serie
Katalog auf Seite 1 öffnenDie von Nikon entwickelte optische Interferenzmesstechnik mit Scanningfunktion erreicht eine Höhenauflösung von 1 pm*. * Angabe zur Höhenauflösung durch Algorithmus Schnelle und präzise Messung von Oberflächenprofilen in Höhenabstufungen vom Subnano- bis zum Millimeterbereich in nur einem Messmodus. Hochpräzise Datenverarbeitungstechniken und neueste Materialentwicklungstechniken der Materialwissenschaften werden unterstützt. BW-S501/BW-S502/BW-S503/BW-S505/BW-S506/BW-S507 Effektive Höhenauflösung Messgeschwindigkeit 15 pm (einschließlich Rauschen) 16 Sekunden Universell einsetzbares Modell...
Katalog auf Seite 2 öffnenSechs Modelle stehen zur Wahl -für unterschiedliche Einsatzzwecke und Budgets Sowohl das BW-S als auch das BW-D Modell sind in den sechs folgenden Konfigurationen erhältlich: Motorisierte Z-Achse 2SSZ Ermöglicht Messungen mit einer Auflösung von über 100 gm (Piezo-Scanbereich). t i Objektivrevolver mit Piezoaktor Hochpräzise/extrem schnelle Bilderfassung unter Verwendung eines Interferenzobjektivs mit Strahlteiler Bei den BW-S500 / D500 Modellen kommen ein Interferenzobjektiv mit Strahlteiler und von Nikon entwickelte Algorithmen zum Einsatz. Sie ermöglichen eine sehr schnelle und präzise...
Katalog auf Seite 3 öffnenSehr gute Rückführbarkeit und Die Kalibrierung der BW-S500/ BW-D500 Modelle erfolgt unter Verwendung eines 8 nm oder 8 μm Stufenendmaßes, das von der von der US-amerikanischen Akkreditierungsstelle NIST zertifiziert ist. Erzielt als Höhenmesssystem eine äußerst hohe Präzision und Wiederholgenauigkeit Wertschwankungen bei Höhenmessung (unter Verwendung des BW-S507 Modells mit LED) Kalibrierter Wert (NIST) : 8,9 nm ±0,6 nm Durchschnittswert mit BW-S507: 8.906 nm(10-fach/ 0,031 nm) Gegenüber Schwankungen der mittleren Wellenlänge der Lichtquelle unempfindlicher Messwert Die von Nikon für die...
Katalog auf Seite 4 öffnenKonfigurationsanalyse eines großen Bereichs dank Stitching-Funktion (Zusammenführung mehrerer Bilder) Die Modelle BW-S503/507 und BW-D503/507 mit in XY motorisiertem Objektträger und der Software „Digital Stylus Imager 3“ verfügen über die Stitching-Funktion (Zusammensetzung von Einzelaufnahmen) Einzelaufnahmen können sowohl in vertikaler als auch in horizontaler Richtung zusammengesetzt werden. Automatische Erfassung bestimmter Einzelbilder Einzelaufnahmen können in einem Bereich von 20 mm ø mit einer Auflösung von 10 µm zusammengesetzt werden. Zusammensetzen der erfassten Bilder (in 5 × 5...
Katalog auf Seite 5 öffnenSoftware , die alles abdeckt – von der einfachen Messaufgabe bis hin Analysesoftware zur fortgeschrittenen Analyse Image Transformer Misst automatisch den Abstand, die Höhe und den Winkel zwischen zwei vom Mauszeiger vorgegebenen Punkten sowie die zweidimensionale Rauheit (Ra, Rq, Rz)/dreidimensionale Rauheit (Sa, Sq, Sz) Aus dem Höhenbild eines kugelförmigen Messobjekts wird die ideale Kurve für die Kugeloberfläche (geometrische Form) des Messobjekts berechnet und das entsprechende Rauheitsprofil analysiert. Anzeige des Querschnittprofils und der Messergebnisse an der auf dem Höhenbild...
Katalog auf Seite 6 öffnenOptisches Messsystem Weißlichtinterferometrie Algorithmisch bestimmte Höhenauflösung Effektive Höhenauflösung (Rauschen) 15pm (0,015 nm) *Bei einem schwingungsgedämpften Objektträger in einer Umgebung mit einem maximalen Schwingungsgrenzwert VC-C 2046 x 2046, 1022 x 1022 (Auswahl über die Software) fit Reproduzierbarkeit der Stufenmessung er 8 nm (8 pm Stufenmessung) **Bei einem schwingungsgedämpften Objektträger in einer Umgebung mit einem maximalen Schwingungsgrenzwert VC-C Dauer der Höhenmessung (1 Sichtfeld, 10 pm Scan) Kleinerer Wert des Objekt iv-Arbeits-abstands oder 20 mm Kleinerer...
Katalog auf Seite 7 öffnenAbmessungen BW-S507 BW-D501 Hinweis: Der Export der in diesem Prospekt aufgeführten Produkte unterliegt der Kontrolle durch das das japanische Devisen- und Außenhandelsgesetz. Das entsprechende Exportverfahren ist bei einem Export aus Japan einzuhalten. *Produkte: Hardware und die entsprechenden technischen Informationen (einschließlich Software) TO ENSURE CORRECT USAGE, READ THE CORRESPONDING MANUALS CAREFULLY BEFORE USING THE EQUIPMENT. BWS500-D500_DE_0416 - Copyright Nikon Metrology NV 2017. Alle Rechte Vorbehalten. Die vorliegenden Unterlagen bieten Informationen summarischer und...
Katalog auf Seite 8 öffnenAlle Kataloge und technischen Broschüren von Nikon Metrology
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VOXLS 40 C 450
5 Seiten
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APDIS Automotive
7 Seiten
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automated ct
8 Seiten
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X-ray CT inspection services
1 Seiten
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Overview brochure
40 Seiten
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Laser Radar Inline Inspection
4 Seiten
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Laser Radar Aerospace
6 Seiten
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CMM-Manager for iNEXIV
4 Seiten
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CMM-Manager
8 Seiten
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Newsmagazine Vol.13
28 Seiten
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MCT225
4 Seiten
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MCAx-MM
8 Seiten
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LC60Dx
4 Seiten
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LC15Dx
8 Seiten
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Eclipse LV-N Industriemikroskope
16 Seiten
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XT V Series
12 Seiten
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Laser Radar General
6 Seiten
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XC65Dx(-LS)
2 Seiten
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L100 Laserscanner
8 Seiten
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Nikon Metrology Messlösungen
40 Seiten
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XT H Series
12 Seiten
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Automatisierte CT
8 Seiten
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Configurable X-ray CT systems
12 Seiten
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Focus
6 Seiten
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iNEXIV VMA Serie
8 Seiten
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K-Scan MMDx - K-CMM
4 Seiten
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X.Tract
2 Seiten
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Nikon Metrology Newwsmagazine Vol.8
28 Seiten
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Industrial X-ray and CT
7 Seiten
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NEXIV VMZ-S
5 Seiten
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bw series
8 Seiten
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Autocollimator
4 Seiten
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NEXIV VMZ-K Series
5 Seiten
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NEXIV VMZ-H3030
3 Seiten
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NEXIV VMZ R-Series
7 Seiten
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Microscope components
17 Seiten
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CAMIO8
16 Seiten
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ALTERA CMM
8 Seiten
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NWL200
5 Seiten
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Eclipse MA200-MA100N
12 Seiten
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Autocollimators 6B-LED/6D-LED
3 Seiten
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VMZ-R Series
7 Seiten
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MM-Series
15 Seiten
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Stereo microscopes
32 Seiten
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AZ100M-AZ100
20 Seiten
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NIS-Elements
20 Seiten
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Digital sight series
9 Seiten
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Profile Projectors
12 Seiten
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JEOL Smart Coater
2 Seiten
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JCM 6000 Plus Neoscope
16 Seiten
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iSpace Assembly Fabrication
4 Seiten
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iSpace
6 Seiten
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H14L
4 Seiten
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eclipse E200pol
3 Seiten
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Auto MeasureEyes
2 Seiten
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gehl-kseries
2 Seiten
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Nikon Metrology News Vol.10
28 Seiten
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Nikon Metrology News Vol.9
28 Seiten
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LV100N POL Ci POL
5 Seiten
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LV-DAF Brochure
2 Seiten
Archivierte Kataloge
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Shuttlepix Digital Microscope
8 Seiten
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K-Robot
2 Seiten
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LC60D
2 Seiten
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LC15
2 Seiten
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XC50-LS
2 Seiten
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NEXIV VMR Brochure
5 Seiten
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Intensilight Brochure
3 Seiten
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Eclipse L200 Series
5 Seiten
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Eclipse LV Series Brochure
10 Seiten
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Eclipse LV100-UDM-POL
3 Seiten
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Neoscope JCM-6000 Brochure
6 Seiten
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scanning electron microscope (SEM)
4 Seiten
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stereomicroscope SMZ1000
7 Seiten
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Neoscope Brochure
4 Seiten
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Optistation-3100
2 Seiten
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AMI-3000
2 Seiten
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COOLSCOPE
8 Seiten
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BioStation IM
5 Seiten
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BioStation CT
8 Seiten
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Neoscope Brochure
4 Seiten
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DXM-1200C
6 Seiten
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Digital Sight Series Brochure
6 Seiten
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Optistation-3100
2 Seiten
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AMI-3000
2 Seiten
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Eclipse FN1
7 Seiten
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Eclipse E100 Brochure
5 Seiten
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Fluorescence Filter Blocks
6 Seiten
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Eclipse 50i/55i Accessories
5 Seiten
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AZ100M (Motorized) Bio Brochure
8 Seiten
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Laser TIRF System
7 Seiten
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Eclipse TS100/TS100F
8 Seiten
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Eclipse Ti Brochure
15 Seiten
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Eclipse TE2000 Brochure
28 Seiten
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COOLSCOPE
8 Seiten
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BioStation IM brochure
5 Seiten
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BioStation CT brochure
8 Seiten