Katalogauszüge
CMM-Manager Messsoftware mit universellen Funktionen für CNC-, manuelle und portable KMGs NIKON METROLOGY I VISION BEYOND PRECISION
Katalog auf Seite 1 öffnenBEDIENERFREUNDLICH, MIT VIELFÄLTIGEN FUNKTIONEN CMM-Manager 3.X for Windows ist die Software für taktile Messungen mit optimalem Preis-/Leistungsverhältnis. Sie ist praktisch auf allen manuellen, CNC- und portablen KMGs einsetzbar. CMM-Manager ermöglicht automatisierte Serienprüfung sowie die Aufnahme von Einzelpunkten. Dadurch wird die benötigte Zeit für den Prüfprozess reduziert. Die Software bietet zahlreiche nützliche Funktionen wie z.B. Messungen gegen CAD Daten mit „Click & Measure“, eine virtuelle Simulation des Messprozesses inkl. Kollisionsbetrachtung, Echtzeitprüfung und RPS...
Katalog auf Seite 2 öffnenSchnellmessung Richten Sie das Werkstück aus und beginnen Sie direkt mit der Messung von Regelgeometrieelementen. Falls CAD zur Verfügung stehen, können Sie sogar über die Funktion „Click & Measure“ am Bildschirm ihre Punkte anwählen, sodass sich eine manuelle Antastung am Werkstück erübrigt. Der CMM-Manager bietet einen benutzerdefinierten, übersichtlichen Arbeitsbereich, sodass der Bediener mit einem geringen Aufwand komplizierte Merkmale wie Lochmuster prüfen kann. Grafische Bemaßung CMM-Manager bietet intuitive und bedienerfreundliche Grafikwerkzeuge für die Bemaßung. Der Bediener kann...
Katalog auf Seite 3 öffnenSCKSIJ 40a o m m ■ m . \ Oj j » ' - TT — “ — — - m B=J> «»1 - “ !r Mit "Click & Measure" zur einfachen Messung Mit der “Click & Measure" Funktion von CMM-Manager kann der Bediener einfach ein beliebiges Merkmal am CAD - Modell anwählen. Die Software generiert automatisch den richtigen Antastwinkel und erzeugt einen kollisionsfreien Tasterweg. Nach Bestätigung der Auswahl durch den Bediener wird das Merkmal automatisch vom KMG gemessen. Darstellung des Teileprogramms durch Symbole Im CMM-Manager ist die Teileprogrammierung auf Grundlage eindeutiger und leicht verständlicher Symbole...
Katalog auf Seite 4 öffnenGrafische Messprotokolle Mit Hilfe des CMM-Managers werden die zur Prüfung herangezogenen Elemente hervorgehoben, um daraus die Merkmale für den Bericht zu erzeugen. Berichterstellung per Drag & Drop Mit den Drag & Drop-Funktionen von CMM-Manager können Grafikberichte deutlich schneller erstellt werden. Um beispielsweise sofort einen Grafikbericht zu generieren, ziehen Sie einfach das entsprechende Objekt aus der Berichtsdatenbank in das Grafikfenster. Scannen von Querschnitten & Freiformflächen CMM-Manager ermöglicht die einfache Definition einer Schnittebene für das Scannen von...
Katalog auf Seite 5 öffnenNÜTZLICHE FUNKTIONEN FÜR EINE SCHNELLE ÜBERPRÜFUNG Automatische Auswahl des Antastwinkels Mit der CMM-Manager-Funktion, die eine automatische Auswahl des Antastwinkels für die Messung von Merkmalen ermöglicht, können Sie viel Zeit sparen. Bei Bedarf wählt die Software mehrere Antastwinkel aus, sodass auch schwer zu messende Merkmale, wie tiefe Taschen und Durchgangslöcher, problemlos geprüft werden können. Automatische Kollisionsvermeidung CMM-Manager verändert automatisch die Verfahrwege, um Hindernisse auf dem Messweg zu umgehen, wenn mögliche Tasterkollisionen festgestellt wurden. Da...
Katalog auf Seite 6 öffnenEFFIZIENTE MESSUNGEN MIT PORTABLEN SYSTEMEN CMM-Manager unterstützt taktile Messungen mit portablen KMGs, wie beispielsweise mit einem Gelenkmessarm oder einem optischen KMG der K-Serie. Diese selbsterklärende und bedienerfreundliche Messsoftware kann für Prüfaufgaben in der Werkstattumgebung eingesetzt werden und kann auch ein großes Messvolumen abdecken. Neben den zahlreichen Funktionen, die für CNC- und manuelle stationäre KMGs zur Verfügung stehen, bietet CMMManager auch nützliche Funktionen für Messungen mit portablen Messarmen, wie eine verbesserte Benutzerführung, automatische...
Katalog auf Seite 7 öffnenNahtlos integrierte Messumgebung • Aufgabenorientierte Arbeitsumgebung mit intuitiver Windows 7 Benutzeroberfläche, die einfach zu erlernen und anwendbar ist. • Schnellmessung für die schnelle Maßhaltigkeitsprüfung • „Click & Measure“ Funktion • CAD-basierte und aufgabenorientierte grafische Programmierung • Virtuelle Simulation und Echtzeit-Überprüfung • Unterstützung für DMIS-Teileprogramme und eine breite Auswahl höherer Programmiersprachen • Nur ein Programm für CNC- und manuelle KMGs Fortschrittliche Messwegplanung • Automatische Auswahl des Antastwinkels • Kollisionserkennung und...
Katalog auf Seite 8 öffnenAlle Kataloge und technischen Broschüren von Nikon Metrology
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VOXLS 40 C 450
5 Seiten
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APDIS Automotive
7 Seiten
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automated ct
8 Seiten
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X-ray CT inspection services
1 Seiten
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Overview brochure
40 Seiten
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Laser Radar Inline Inspection
4 Seiten
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Laser Radar Aerospace
6 Seiten
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CMM-Manager for iNEXIV
4 Seiten
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Newsmagazine Vol.13
28 Seiten
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MCT225
4 Seiten
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MCAx-MM
8 Seiten
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LC60Dx
4 Seiten
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LC15Dx
8 Seiten
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Eclipse LV-N Industriemikroskope
16 Seiten
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XT V Series
12 Seiten
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Laser Radar General
6 Seiten
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XC65Dx(-LS)
2 Seiten
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L100 Laserscanner
8 Seiten
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Nikon Metrology Messlösungen
40 Seiten
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XT H Series
12 Seiten
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Automatisierte CT
8 Seiten
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Configurable X-ray CT systems
12 Seiten
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Focus
6 Seiten
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iNEXIV VMA Serie
8 Seiten
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K-Scan MMDx - K-CMM
4 Seiten
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BW-Series
8 Seiten
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X.Tract
2 Seiten
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Nikon Metrology Newwsmagazine Vol.8
28 Seiten
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XT V SERIES
7 Seiten
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XT H 225 ST 2x
7 Seiten
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VOXLS 30 SERIES
15 Seiten
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XT H Series
7 Seiten
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Industrial X-ray and CT
7 Seiten
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NEXIV VMZ-S
5 Seiten
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bw series
8 Seiten
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Autocollimator
4 Seiten
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NEXIV VMZ-K Series
5 Seiten
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NEXIV VMZ-H3030
3 Seiten
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NEXIV VMZ R-Series
7 Seiten
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Microscope components
17 Seiten
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CAMIO8
16 Seiten
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ALTERA CMM
8 Seiten
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NWL200
5 Seiten
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Eclipse MA200-MA100N
12 Seiten
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Autocollimators 6B-LED/6D-LED
3 Seiten
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VMZ-R Series
7 Seiten
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MM-Series
15 Seiten
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Stereo microscopes
32 Seiten
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AZ100M-AZ100
20 Seiten
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NIS-Elements
20 Seiten
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Digital sight series
9 Seiten
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Profile Projectors
12 Seiten
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JEOL Smart Coater
2 Seiten
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JCM 6000 Plus Neoscope
16 Seiten
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iSpace Assembly Fabrication
4 Seiten
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iSpace
6 Seiten
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H14L
4 Seiten
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eclipse E200pol
3 Seiten
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Auto MeasureEyes
2 Seiten
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gehl-kseries
2 Seiten
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Nikon Metrology News Vol.10
28 Seiten
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Nikon Metrology News Vol.9
28 Seiten
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LV100N POL Ci POL
5 Seiten
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LV-DAF Brochure
2 Seiten
Archivierte Kataloge
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Shuttlepix Digital Microscope
8 Seiten
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K-Robot
2 Seiten
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LC60D
2 Seiten
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LC15
2 Seiten
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XC50-LS
2 Seiten
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NEXIV VMR Brochure
5 Seiten
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Intensilight Brochure
3 Seiten
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Eclipse L200 Series
5 Seiten
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Eclipse LV Series Brochure
10 Seiten
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Eclipse LV100-UDM-POL
3 Seiten
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Neoscope JCM-6000 Brochure
6 Seiten
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scanning electron microscope (SEM)
4 Seiten
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stereomicroscope SMZ1000
7 Seiten
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Neoscope Brochure
4 Seiten
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Optistation-3100
2 Seiten
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AMI-3000
2 Seiten
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COOLSCOPE
8 Seiten
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BioStation IM
5 Seiten
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BioStation CT
8 Seiten
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Neoscope Brochure
4 Seiten
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DXM-1200C
6 Seiten
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Digital Sight Series Brochure
6 Seiten
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Optistation-3100
2 Seiten
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AMI-3000
2 Seiten
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Eclipse FN1
7 Seiten
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Eclipse E100 Brochure
5 Seiten
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Fluorescence Filter Blocks
6 Seiten
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Eclipse 50i/55i Accessories
5 Seiten
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AZ100M (Motorized) Bio Brochure
8 Seiten
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Laser TIRF System
7 Seiten
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Eclipse TS100/TS100F
8 Seiten
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Eclipse Ti Brochure
15 Seiten
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Eclipse TE2000 Brochure
28 Seiten
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COOLSCOPE
8 Seiten
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BioStation IM brochure
5 Seiten
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BioStation CT brochure
8 Seiten