Eclipse LV-N Industriemikroskope
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Katalogauszüge

Eclipse LV-N Industriemikroskope - 2

Ausgestattet mit neuen Optiken, leitet das ECLIPSE eine neue Ära der Mikroskopie ein. Das ECLIPSE Mikroskopstativ ist nun modular aufgebaut, um den individuellen Anforderungen an Industriemikroskope in unterschiedlichsten Produktionsbereichen, einschließlich Halbleiterfertigung, sowie Elektronik- und Materialanwendungen, gerecht zu werden. Die weiterentwickelte ECLIPSE LV Serie wartet, neben Stativ- und Beleuchtungseinheiten, die je nach Beobachtungsverfahren und -zweck konfiguriert werden können, mit einem neuen Optiksystem und neuen Funktionen auf. Vier verschiedene Modelle – in...

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Eclipse LV-N Industriemikroskope - 4

(*Spezielle Modellvariante mit LED-Beleuchtung) *Modellvarianten mit Auflicht Mikroskoptyp Kompatible Beobachtungsverfahren Motorisierte Varianten Manuelle Varianten Fluoreszenz Polarisation *Verwenden Sie die für dieses Beobachtungsverfahren geeignete Objektive. LV-S32 3x2 Objekttisch (Verfahrweg: 75 x 50 mm mit Glasplatte) *Kann mit LV-S32SPL ESD Platte ergänzt werden Kompatible Objekttische *Kann mit LV-S6WH Waferhalterung / LV-S6PL ESD-Platte ergänzt werden LV-SRP P Drehbarer Objekttisch P-GS2 G Objekttisch 2 (zusammen mit Tischadapter LV-SAD) (Stand-Alone Steuereinheit) (bei Verwendung...

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Eclipse LV-N Industriemikroskope - 5

Modellvarianten mit kombiniertem Auflicht/Durchlicht Motorisierte Varianten Manuelle Varianten Hellfeld LV100ND/ LV100DA-U (Objektivrevolver / Lichtintensität / Aperturblende / Auswahl des Beobachtungsverfahrens) Dunkelfeld Fluoreszenz Polarisation Auflicht Durchlicht * Verwenden Sie die für dieses Beobachtungsverfahren geeigneten Objektive. LV-S32 3x2 Objekttisch (Verfahrweg: 75 x 50 mm mit Glasplatte) *Kann mit LV-S32SGH Glasobjektträger ergänzt werden LV-S64 6x4 Objekttisch (Verfahrweg: 150 x 100 mm mit Glasplatte) LV-SRP P Drehbarer Objekttisch P-GS2 G Objekttisch 2 (zusammen mit...

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Eclipse LV-N Industriemikroskope - 6

Optische Performance setzt neue Maßstäbe Das legendäre Optiksystem CFI60 von Nikon, das in einmaliger Weise hohes Auflösungsvermögen mit langen Arbeitsabständen kombiniert, wurde weiterentwickelt. Es erzielt nun beste Ergebnisse in jeder Hinsicht - Brillianz, Auflösung, lange Arbeitsabstände, chromatische Aberrationskorrektur und Gewichtseinsparung. Serienmäßig Plan-Objektive T Plan & TU Plan Fluor & TU Plan Apo Objektive Licht Fje Objektive für niedrige Vergrößerungsbereiche T Plan EPI 1x/2.5x Mit diesen universellen Standard-Objektiven haben Sie die Wahl zwischen den...

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Eclipse LV-N Industriemikroskope - 7

Langer Halb- Licht Objektive mit langen Arbeitsabständen (WD) Objektive mit extralangen Arbeitsabständen (WD) T Plan EPI SLWD----— 10x/20x/50x/100x Langer Halb- Licht Durch die Verwendung von Phasen-Fresnel-Linsen ermöglichen diese Objektive längere Arbeitsabstände und gleichzeitig eine bessere Korrektur der chromatischen Aberration als herkömmliche Objektive. Die Arbeitsabläufe bei Proben mit Höhenabstufungen werden dadurch deutlich vereinfacht. * Die Abbildung zeigt

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Eclipse LV-N Industriemikroskope - 8

Objektiv-Informationserkennung und -Steuerung LV-NU5I Intelligenter LV-INAD Adapter für Objektivrevolver Objektivrevolver In Verbindung mit dem intelligenten Objektivrevolver LV-NU5I und dem neu entwickelten Revolveradapter LV-INAD, der Vergrößerungsposition automatisch erkennt, geben die Mikroskope LV150N/LV100ND Informationen über die gerade im Einsatz befindlichen Objektive aus, die über die Steuerung der Digitalkamera erfasst wurden. Bei einem Wechsel des Vergrößerungsposition werden die Informationen automatisch in die richtigen Kalibrierdaten konvertiert. Neben der Erkennung der...

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Eclipse LV-N Industriemikroskope - 9

Digitalkamerasystem der „Digital Sight“ (DS) Serie für die Mikroskopie Sä»1'"' Stand-Alone Steuerung PC-basierte Steuerung Mit der bedienerfreundlichen DS-L3, die mit einer komfortablen Touch Panel-Anzeige und zahlreichen Funktionen ausgestattet ist, können Bilder schnell erfasst werden, ohne dass ein PC oder Computerbildschirm benötigt werden. Die DS-U3 ermöglicht die Aufnahme von Live-Bildern, fortgeschrittene Bildverarbeitung und -analyse und Steuerung aller Funktionen direkt vom PC aus und kann flexibel für zahlreiche Anwendungen konfiguriert werden. ■ Hochauflösender Touch...

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Eclipse LV-N Industriemikroskope - 10

Beobachtungsverfahren Geeignet für zahlreiche Beobachtungsverfahren: Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation, DifferentialInterferenz, Auflicht-Fluoreszenz und Zweistrahl-Interferometrie. (Episkopische DIC) Von den Objektiven bis hin zu ihren Beleuchtungssystemen ist die LV-N Modellreihe bestens gerüstet, um Überstrahlungen zu vermeiden und gleichzeitig helle, kontrastreiche Bilder zu liefern. Die LV-N Modellreihe ist unübertroffen bei der Beobachtung von Proben mit fluoreszierenden Eigenschaften. Diaskopisch Hellfeld LCD (Farbfilter) Die LV-N Modellreihe eignet sich besonders zur Beobachtung...

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Eclipse LV-N Industriemikroskope - 12

Objektive Type T Plan EPI Plan (Halb-Apochromat) TU Plan Fluor EPI Universell Plan Fluor (Halb-Apochromat) TU Plan Apo EPI Universell Plan Apo (Apochromat) TU Plan Fluor EPI P Polarizing Universal Plan Fluor Hellfeld Langer Arbeitsabstand Hellfeld Extralanger Arbeitsabstand TU Plan EPI ELWD Langer Arbeitsabstand Universell Plan T Plan EPI SLWD Extralanger Arbeitsabstand Plan TU Plan Apo BD Universell Plan Apo (Apochromat) TU Plan Fluor BD Universal Plan Fluor (Halb-Apochromat) : Linsentyp Phasen-Fresnel (optisches Element Diffraktion) Hellfeld Hellfeld Extralanger Arbeitsabstand Ein...

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Eclipse LV-N Industriemikroskope - 14

Systemdiagramm für LV150N/LV150ND/LV100NDA/LV100DA-U C-Mount CCD Kamera C-Mount Zoom Adapter C-Mount Adapter VM2,5x V-T Photo Adapter LV-TV TV Adapter Y-TV55 TV Tubus P-TT2 Trinokular Tubus 0,5× Tubus Einheit L-DIHC (Hoher Kontrast) DIC Prisma LV-INAD Objektivrevolver-Adapter für autom. Objektiverkennung TU Plan Fluor EPI Objektive (1X Objektiv nicht verwendbar in Verbindung mit Erhöhungsmodul) TU Plan Fluor EPI Objektive LWD P Achromat DF Trocken- C-C Abbe- C-C Achromat Achromat Kondensor kondensor Kondensor Kondensor Kondensor LV-DIC Schieber Position A&B LV-DIHC Schieber Position A&B...

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Alle Kataloge und technischen Broschüren von Nikon Metrology

  1. VOXLS 40 C 450

    5 Seiten

  2. automated ct

    8 Seiten

  3. CMM-Manager

    8 Seiten

  4. MCT225

    4 Seiten

  5. MCAx-MM

    8 Seiten

  6. LC60Dx

    4 Seiten

  7. LC15Dx

    8 Seiten

  8. XT V Series

    12 Seiten

  9. XC65Dx(-LS)

    2 Seiten

  10. XT H Series

    12 Seiten

  11. Focus

    6 Seiten

  12. BW-Series

    8 Seiten

  13. X.Tract

    2 Seiten

  14. XT V SERIES

    7 Seiten

  15. XT H 225 ST 2x

    7 Seiten

  16. VOXLS 30 SERIES

    15 Seiten

  17. XT H Series

    7 Seiten

  18. NEXIV VMZ-S

    5 Seiten

  19. bw series

    8 Seiten

  20. Autocollimator

    4 Seiten

  21. CAMIO8

    16 Seiten

  22. ALTERA CMM

    8 Seiten

  23. NWL200

    5 Seiten

  24. VMZ-R Series

    7 Seiten

  25. MM-Series

    15 Seiten

  26. AZ100M-AZ100

    20 Seiten

  27. NIS-Elements

    20 Seiten

  28. iSpace

    6 Seiten

  29. H14L

    4 Seiten

  30. gehl-kseries

    2 Seiten

Archivierte Kataloge

  1. K-Robot

    2 Seiten

  2. LC60D

    2 Seiten

  3. LC15

    2 Seiten

  4. XC50-LS

    2 Seiten

  5. AMI-3000

    2 Seiten

  6. COOLSCOPE

    8 Seiten

  7. BioStation IM

    5 Seiten

  8. BioStation CT

    8 Seiten

  9. DXM-1200C

    6 Seiten

  10. AMI-3000

    2 Seiten

  11. Eclipse FN1

    7 Seiten

  12. COOLSCOPE

    8 Seiten