Gruppe: NIKON GROUP
Katalogauszüge
Schnellste Einblicke in die Qualitätskontrolle In einer Fertigungsumgebung, in der es auf schnelle Problemlösungen ankommt, übersteigen interne Materialdefekte, komplizierte Baugruppen und verborgene Geometrien möglicherweise die Prüffähigkeiten im eigenen Hause. Herkömmliche destruktive Techniken wie das Zerschneiden von Werkstücken, um innenliegende Strukturen zu analysieren, sind häufig wenig effektiv. Außerdem wird Ihr Verifizierungsprozess dadurch deutlich teurer und zeitaufwändiger. Röntgen- und CT-Messdienstleistungen von Nikon Metrology bieten Ihnen alles was Sie brauchen, um Prototypen, Muster oder Serienteile auf interne Defekte zu prüfen. Das Verfahren ist schnell, zerstörungsfrei und ermöglicht aufschlussreiche 3D-Analysen. Und die CT-Experten der Abteilung „Nikon Metrology Lohnmessung“ gehen noch weiter: Sie liefern nicht nur detaillierte 3D-Scans, sondern interpretieren auch Ergebnisse für Sie, um Ihnen die Fehlersuche zu erleichtern. Nikon Metrology Röntgen- und CT-Messdienstleistungen bieten Ihnen Raum, sich auf das Wesentliche zu konzentrieren Lieferung von Produkten höchster Qualität in kürzester Zeit Möglichkeiten der Nikon Metrology CT-Technik • Höchste Auflösung durch leistungsstarke Mikrofokusröntgenröhren • Schnelle Scanzeiten dank einzigartiger rotierender High-Flux-Targets • Große Auswahl an Systemen zum Scannen von Kleinteilen bis hin zu großen Baugruppen • Prüfung verschiedenster Werkstoffe: Metalle, Legierungen, Kunststoffe, Keramik, Verbundstoffe, Knochen und Gewebe • Zerstörungsfreie Analyse für die Unversehrtheit von (teuren) Muster • Analyse von Werkstoffen/Defekten, Porosität, Verbundfasern, Teil-gegenCAD-Vergleich, Form- und Lagetoleranzen, STL-Erstellung, BGA-Analyse und 2D-Röntgenaufnahmen • Präzise Messung interner und externer Abmessungen Vorteile von Nikon Metrology Röntgen- und CT-Messdienstleistungen • Über 30 Jahre Erfahrung in der Röntgen- und CT-Technik • Voll ausgestattete Labore mit 160-450 kV Mikro CT-Systemen • Bei begrenzten oder ungeeigneten CT-Kapazitäten im eigenen Hause für bestimmte Projekte, können Sie sich auf den Nikon CT-Service verlassen • Kleine Einzelprojekte für die Prüfung von größeren Losen • Individuelle Berichterstattung und Analyse für jeden Kunden • Kontrollierbare Projektkosten statt Investitionen in eigene CT-Technik • Kurze Bearbeitungszeiten • Nahegelegene Servicezentren in ganz Europa Kontaktierungsfehler in elektrischen Bauteilen Messung von kleinen innenliegenden Geometrien Interne Lunker/Kühlkanäle ind generativ gefertigten Werkstücken Montageprüfung von einmaligen oder anwendungskritischen Bauteilen Werkstoffanalyse (Schaumstoff) PCB (A): BGA-Lunker, gebrochene Bonddrähle,
Katalog auf Seite 1 öffnenAlle Kataloge und technischen Broschüren von Nikon Metrology
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VOXLS 40 C 450
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APDIS Automotive
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automated ct
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X-ray CT inspection services
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Overview brochure
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Laser Radar Inline Inspection
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Laser Radar Aerospace
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CMM-Manager for iNEXIV
4 Seiten
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CMM-Manager
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Newsmagazine Vol.13
28 Seiten
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MCT225
4 Seiten
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MCAx-MM
8 Seiten
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LC60Dx
4 Seiten
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LC15Dx
8 Seiten
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Eclipse LV-N Industriemikroskope
16 Seiten
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XT V Series
12 Seiten
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Laser Radar General
6 Seiten
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XC65Dx(-LS)
2 Seiten
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L100 Laserscanner
8 Seiten
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Nikon Metrology Messlösungen
40 Seiten
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XT H Series
12 Seiten
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Automatisierte CT
8 Seiten
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Configurable X-ray CT systems
12 Seiten
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Focus
6 Seiten
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iNEXIV VMA Serie
8 Seiten
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K-Scan MMDx - K-CMM
4 Seiten
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BW-Series
8 Seiten
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X.Tract
2 Seiten
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Nikon Metrology Newwsmagazine Vol.8
28 Seiten
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Industrial X-ray and CT
7 Seiten
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NEXIV VMZ-S
5 Seiten
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bw series
8 Seiten
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Autocollimator
4 Seiten
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NEXIV VMZ-K Series
5 Seiten
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NEXIV VMZ-H3030
3 Seiten
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NEXIV VMZ R-Series
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Microscope components
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CAMIO8
16 Seiten
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ALTERA CMM
8 Seiten
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NWL200
5 Seiten
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Eclipse MA200-MA100N
12 Seiten
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Autocollimators 6B-LED/6D-LED
3 Seiten
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VMZ-R Series
7 Seiten
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MM-Series
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Stereo microscopes
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AZ100M-AZ100
20 Seiten
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NIS-Elements
20 Seiten
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Digital sight series
9 Seiten
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Profile Projectors
12 Seiten
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JEOL Smart Coater
2 Seiten
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JCM 6000 Plus Neoscope
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iSpace Assembly Fabrication
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iSpace
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H14L
4 Seiten
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eclipse E200pol
3 Seiten
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Auto MeasureEyes
2 Seiten
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gehl-kseries
2 Seiten
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Nikon Metrology News Vol.10
28 Seiten
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Nikon Metrology News Vol.9
28 Seiten
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LV100N POL Ci POL
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LV-DAF Brochure
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Archivierte Kataloge
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Shuttlepix Digital Microscope
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K-Robot
2 Seiten
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LC60D
2 Seiten
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LC15
2 Seiten
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XC50-LS
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NEXIV VMR Brochure
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scanning electron microscope (SEM)
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stereomicroscope SMZ1000
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Optistation-3100
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COOLSCOPE
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BioStation IM
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BioStation CT
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Neoscope Brochure
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DXM-1200C
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Optistation-3100
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AMI-3000
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Eclipse FN1
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Fluorescence Filter Blocks
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Eclipse 50i/55i Accessories
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Eclipse TS100/TS100F
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Eclipse TE2000 Brochure
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COOLSCOPE
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BioStation IM brochure
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BioStation CT brochure
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