optris PI 640i MikroskopoptikTECHNISCHE DATEN Mikroskopoptik für die Untersuchung von elektronischen Baugruppen Vorteile: • Austauschbare, fokussierbare Optik für flexiblen Einsatz • Analysieren von kleinen Komponenten mit einer Auflösung bis zu 28 |jm • Gleichzeitige elektrische Prüfung und thermische Analyse möglich durch optimalen Arbeitsabstand • Framerate bis zu 125 Hz liefert Inspektion schneller Prozesse (z.B. gepulste Laserdioden) • Radiometrische Aufnahme von Videos und Bildern mit einer Messgenauigkeit von +/- 2°C • Lizenzfreie Analysesoftware und komplettes SDK inklusive Technische Spezifikationen Temperaturbereich (skalierbar) -20 ... 100 °C, 0 ... 250 °C, (20)150 ... 900 “C11 FPA, Detektor 640 x 480 Pixel @ 32 Hz Kleinster Messfleck (IFOV) 28 pm MFOV FOV (Messfeld) Fokuseinstellung Systemgenauigkeit Thermische Empfindlichkeit (NETD) PC Schnittstellen Standard-Prozess-Interface (PIF) Industrie-Prozess-Interface (IPIF) Kabellängen (USB) Umgebungstemperatur Lagertemperatur Relative Luftfeuchtigkeit Gehäuse31 (Größe / Schutzklasse) Gewicht Schock / Vibration3) Stativaufnahme 85 pm 25 mm x 18 mm 80 - 100 mm ±2 °C oder ±2 %, es gilt der größere Wert 40 mK USB 2.0 0-10 V Eingang, digitaler Eingang (max. 24 V), 0-10 V Ausgang 2x 0-10 V Eingang, digit. Eingang (max. 24 V), 3x 0/4 - 20 mA Ausgänge, 3x Relais (0-30 V / 400 mA), Fail-Safe-Relais 1 m (Standard), 3 m, 5 m, 10 m, 20 m 0 ... 50 °C 20-80 %, nicht kondensierend 46 x 56 x 119 - 126 mm (abhängig von der Fokusposition) / IP 67 (NEMA 4) 370 g, inkl. Objektiv IEC 60068-2-27 (25G und 50G) / IEC 60068-2-6 (sinusförmig), IEC 60068-2-64 (Breitbandrauschen) 1/4 - 20 UNC Software optris PIX Connect / Windows and Linux SDKs Lieferumfang (Set) • PI 640i Kamera • Standard-Optik (O33) • Standard USB-Kabel (1 m) • Standard PIF • Bedienungsanleitung PI Kamera • Robuster Hartschalenkoffer • Softwarepaket optris PIX Connect (auf USB-Stick) Optris GmbH ■ Ferdinand-Buisson-Str. 14 ■ 13127 Berlin ■ Germany Tel.: +49 30 500 197-0 ■ Fax: +49 30 500 197-10 ■ Email: [email protected] ■

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