Datenblatt TopMap Pro.Surf | 3D Oberflächenmesstechnik
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Katalogauszüge

Datenblatt TopMap Pro.Surf | 3D Oberflächenmesstechnik - 1

TopMap Pro.Surf TopMap Pro.Surf+ TMS-500 TopMap Pro.Surf und TMS-500-R TopMap Pro.Surf+ sind berührungslos arbeitende WeißlichtInterferometer mit großem Bildfeld zur schnellen und einfachen Messung präzisionsgefertigter Oberflächen. Mit großem vertikalen Messbereich werden auch tiefliegende Flächen und große Stufenhöhen genau und rückführbar charakterisiert. Ebenheits- und Parallelitätstoleranzen auch makroskopischer Messobjekte lassen sich schnell und mit hoher Wiederholpräzision überprüfen. Beim All-In-One Gerät TopMap Pro.Surf+ ermittelt zudem ein chromatisch-konfokaler Abstandssensor die Rauheit. TopMap Pro.Surf TopMap Pro.Surf+ Präzisionsgefertigte Oberflächen zuverlässig überprüfen Datenblatt Schnelle und präzise 3DOberflächen-Charakterisierung Formabweichung auf großen Flächen auch ohne Stitching Optische Rauheitsmessung (TopMap Pro.Surf+) Mit kurzen Messzeiten und großem Messfeld für die Automatisierung Berührungsloses Messprinzip Auf nahezu allen Oberflächen Toleranzen zuverlässig und mit hoher Wiederholpräzision überprüfen Vertikaler Me

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Datenblatt TopMap Pro.Surf | 3D Oberflächenmesstechnik - 2

Technische Daten Die Angaben zu den Modellen TMS-500 TopMap Pro.Surf und TMS-500-R TopMap Pro.Surf+ entsprechen der Initiative "Faires Datenblatt" für optische 3D-Oberflächenmessgeräte. Allgemeine Merkmale Positioniervolumen Maximale Anzahl der Messpunkte in einer Einzelmessung Optische Spezifikationen Ausführung Small Ausführung Large Ausführung Small Ausführung Large Erweiterter lateraler Messbereich Erweiterter lateraler Messbereich mit Datenreduktion Lateraler Messbereich Arbeitsabstand Vertikaler Messbereich Rechnerischer Grenzwinkel Messpunktabstand Rechnerische laterale optische...

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Datenblatt TopMap Pro.Surf | 3D Oberflächenmesstechnik - 3

Sonstige Merkmale Messprinzip Scannende Weißlicht-Interferometrie (Michelson) Optischer Aufbau Telezentrisch; Lichtquelle: langlebige LED, 525 nm Weitere Merkmale Manuelles Filterrad mit 3 Filtern zur Anpassung an verschiedene Probenreflektivitäten; Optisches Hilfsmittel zum automatischen Auffinden der Messposition Topographiedaten: SUR, ASCII Weitere Exportmöglichkeiten: qs-STAT, PDF, BMP, PNG, TIFF, GIF Zusätzliche Sensorik bei TopMap Pro.Surf+ Messbereich Arbeitsabstand Laterale Auflösung Typische Rauheitsmessung Anwendungsspezifische Merkmale Typische Ebenheitsmessung 3 Mess- und...

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Datenblatt TopMap Pro.Surf | 3D Oberflächenmesstechnik - 4

OM_DS_TopMap_Pro.Surf_D_42402 2022/04 - Änderung der technischen Spezifikationen vorbehalten. Zukunft seit 1967 Hightech für Forschung und Industrie. Vorreiter. Innovatoren. Perfektionisten. Den Ansprechpartner für Ihre Region finden Sie unter: www.polytec.com/contact Polytec GmbH Polytec-Platz 1-7 · 76337 Waldbronn Tel. +49 7243 604-0 · info@polytec.de

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