Oberflächen charakterisieren mit Weißlichtinterferometrie - flächenhaft, 3D, berührungsfrei
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Katalogauszüge

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O Polylec Oberflächenmessung Wenn es ganz genau sein muss

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Der Bedarf an berührungsloser Oberflächenmesstechnik wächst kontinuierlich und geht quer durch alle Branchen. Kein Wunder, sind doch zuverlässige Ergebnisse mit höchster Wiederholpräzision ein wesentliches Kriterium, um sich im Markt durchzusetzen und auf lange Sicht erfolgreich zu bleiben. Gerade in der industriellen Fertigung muss die Einhaltung gegebener Toleranzen häufig kontrolliert werden. Das hilft, die Funktion sicherzustellen und mangelhafte Teile vor jedem Weiterverarbeitungsschritt auszusortieren und damit unnötige Kosten zu vermeiden. Bei Werkstücken werden sehr oft definierte...

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Als erfolgreicher Entwickler hochwertiger optischer Messsysteme ist Polytec ein erfahrener Partner für Oberflächenmessungen in nahezu allen Anwendungsbereichen. So liefern wir seit mehr als vier Jahrzehnten High-End-Lösungen für die Automobil-, Luft- und Raumfahrt-, Stahl-, Maschinenbau-, Chemie-, Textil- und Papierindustrie. Wir realisieren maßgeschneiderte Systeme, was die Größe des Messfeldes, die Auflösung und die speziellen Anforderungen der jeweiligen Messaufgabe betriff

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Messen mit Licht – berührungslos, schnell und extrem genau

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Moderne Weißlicht-Interferometer von Polytec nutzen die Interferenzeffekte, die bei der Überlagerung des vom Messobjekt reflektierten Lichts mit dem von einem hochgenauen Referenzspiegel zurückgestreuten Licht auftreten. Durch Abfahren mit einem Spiegel wird die Höhe des Objektes gescannt. Perfektes Zusammenspiel aller Funktionen sorgt für anpassungsfähigen Einsatz. KAMERA Das Messverfahren basiert auf dem Prinzip des Michelson-Interferometers, wobei der optische Aufbau eine Lichtquelle mit einer Kohärenzlänge im μm-Bereich enthält. Ein Strahlteiler splittet den kollimierten Lichtstrahl in...

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Polytec ist weltweit führend im Bereich der Weißlicht-Interferometrie - der Technologie zur nanometergenauen optischen Erfassung der Topografie von großen Flächen. Die zu untersuchenden Flächen liegen häufig in tiefen Bohrungen oder haben eine große Höhendifferenz - kein Problem für die Polytec Topografie-Messsysteme (TMS). Die hohen Anforderungen an die Funktionalität technischer Oberflächen erfordern immer häufiger die Einhaltung kleinster Toleranzen. In solchen Fällen sind Messungen mit Auflösungen im Submikrometerbereich oder sogar von wenigen Nanometern erforderlich, um die geforderte...

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Bei Funktionsoberflächen sind Ebenheiten häufig von entscheidender Bedeutung, beispielweise bei Bauteilen mit Dichtflächen aus der Druck- und Vakuumtechnik, aber auch bei transparenten Folien für Displays, Halbleiterbauelementen, Metall- und Keramikoberflächen. Mit den TopMap-Systemen messen Sie großflächig bis zu 200 x 200 mm2 und erhalten eine schnelle und vollständige Charakterisierung des Werkstücks. Unter optimalen Bedingungen erreichen Sie Genauigkeiten im Subnanometerbereich. Die Miniaturisierung funktioneller Komponenten führt zu integrierten Strukturen, deren Funktion davon...

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PolyXpert Services Spezialisten für Topografien mikroskopischer Strukturen Das Messen mit kurzkohärentem Weißlicht macht das Mikroskopsystem TopMap µ.Lab zum Spezialisten für Mikrostrukturen mit einer exzellenten lateralen Auflösung (< 0,5 µm). Zum Beispiel bei Messungen an Mikro-Sensoren und -Aktoren sowie Untersuchungen an strukturierten Blechen oder Laufflächen. Unser TopMap μ.Lab bietet Ihnen leistungsfähige Auswertungsmöglichkeiten, bei größeren Flächen auch per Stitching, sprich durch Aneinanderfügen mehrerer M

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Mikrostrukturierte Oberflächen Funktionsoberflächen bedingen häufig die An- oder Abwesenheit bestimmter struktureller Merkmale. Für den Schmiermitteleinsatz an Reibflächen, z. B. in Motoren oder Pleuelaugen, ist die Auswertung der Art und Häufigkeit von Poren entscheidend. Das Gleiche gilt für Oberflächenstrukturen zur besseren Haftung von Lacken in der Stahlindustrie. Aber auch unerwünschte Strukturen müssen analysiert werden, da sie Reibungskräfte erhöhen oder Ursache unwillkommener Schwingungen sind. Topografiemessungen mit lateral hoher Auflösung sind bei der Bestimmung des...

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Polytec TopMap Systeme basieren auf dem etablierten Messprinzip der Weißlichtinterferometrie. Sie ermöglichen eine große Höhenauflösung, die unabhängig von der gewählten Bildfeldgröße ist. Vom MEMSBauteil bis hin zur präzisiongefertigten Dichtfläche lassen sich unterschiedlichste Oberflächen schnell mit hoher Wiederholpräzision erfassen. Die TMS TopMapSysteme bieten Ihnen leistungsfähige und automatisierbare Auswertemöglichkeiten, egal ob im Messlabor oder in der 100 %Kontrolle in der Fertigungslinie. Viele Vorteile für Ihre Aufgaben Keine Details übersehen Große Flächen messbar Durch den...

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Große Intensitätsunterschiede einstellbar Häufig reflektieren Werkstücke unterschiedlich intensiv, beispielsweise bei stark spiegelnden Oberflächen mit unterschiedlichen Neigungswinkeln. Für solche Fälle hat Polytec die „Smart Surface Scanning"-Technologie entwickelt, um die Oberfläche mehrfach mit unterschiedlichen Belichtungszeiten der Kamera zu vermessen. Die Software erkennt automatisch das Ergebnis mit der optimalen Belichtungszeit und verwendet es für jeden Pixel. Hoher Automatisierungsgrad Die TMS TopMap-Software ist durch die Einbindung von .NET offen für die Programmierung eigener...

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PolyXpert Services TopMap – eine ausgesprochen genaue Familie TopMap Pro.Surf+ Der Alleskönner Das All-In-One System von Polytec: Das TMS-500-R TopMap Pro.Surf+ ergänzt die Präzision eines Weißlicht-Interferometers um einen chromatisch-konfokalen Sensor, um Formabweichungen plus Rauheit bequem mit einem Gerät zu ermitteln. TopMap Pro.Surf+ misst großflächig und mit Nanometer-Auflösung. TopMap Pro.Surf Der Oberflächenprofi Optimal für die schnelle und präzise 3D-OberflächenCharakterisierung. Die flächenhafte Messung des TMS-500 TopMap Pro.Surf stellt sicher, dass kein Detail übersehen wird....

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