TopMap Micro.View®+ modularer optischer Profiler
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TopMap Micro.View®+ / Micro.View®+ Compact TopMap Micro.View®+ ist die neue Generation optischer 3D-Profilometer. Als modulare Messstation bietet sie Konfigurationsmöglichkeiten und viele Freiheitsgrade für die verlässliche, hochgenaue Prüfung selbst feinster Oberflächendetails wie Rauheit, Textur und Mikrostrukturen. Flächenhafte 3D-Messdaten sowie Farbdarstel-lungen erlauben aussagekräftige Visualisierungs- und Analyseformen sowie die professionelle Dokumentation von Defekten. Die 5 MP-Kamera nimmt 3D-Messbilder bis ins letzte Detail auf. Umfangreiches Zubehör erleichtert und beschleunigt die Messvorgänge signifikant. Während Focus Finder und Focus Tracker Prüflinge unter allen Umständen stets im Fokus behalten, unterstützen voll-motorisierte Positioniereinheiten das Stitching und automatisierte Prüfprozesse. ■ High-end Weißlichtinterferometer mit nm Auflösung ■ 100 mm vertikaler Messbereich mit CST Continuous Scanning Technology ■ Focus Finder und Focus Tracker ideal für automatisierte Fertigungskontrolle ■ Kein Nachpositionieren dank motorisierter Tip-Tilt Stage und Revolver ■ Farbmodus für die professionelle Analyse und Dokumentation von Defekten ■ Modular für anwendungsspezifische Konfigurationen

I Fair ll .js Data sSheet Technische DatenDie Angaben zum Modell TMS-2400 TopMap Micro.View®+ entsprechen der Initiative „Faires Datenblatt" für optische 3D-Oberflächenmessgeräte. Bitte fragen Sie Polytec nach weiteren Informationen für die Konfiguration mit 5 MP Kamera. | Allgemeine Merkmale 1 Micro.View®+ Compact in Übereinstimmung mit der Initiative „Faires Datenblatt" für optische Oberflächenmessgeräte Auswertung Phase Gemäß „Faires Datenblatt", 30 Messungen (10x-Objektiv, 11.3 pm/sek, 92% FOV) an einem parallel ausgerichteten Planspiegel (R > 93%, X/10). Nachbearbeitung mittels...

in Übereinstimmung mit der Initiative „Faires Datenblatt“ für optische Oberflächenmessgeräte Auswertung Phase Auswertung Hüllkurve Mittelwert der Ebenheit (nach ISO 1101) von 30 Messungen (10x-Objektiv, 11,3 pm/sek, 92% FOV)an einem parallel ausgerichteten Planspiegel (R > 93%, X/10). Nachbearbeitung: Ausrichtung, Median-Filter 5x5 mit Schwellwert 3 nm (Auswertung Phase)/mit Schwellwert 30 nm (Auswertung Hüllkurve), Standardabweichung der gemessenen Ebenheiten aus 4 15 Messungen (10x-Objektiv, 11,3 pm/sek) je Stufe an einem kalibrierten Tiefeneinstellnormal des Typs KNT 4080/03 (nach ISO...

Konfigurationsmöglichkeiten Micro.View®+ Messkopf, Standard oder optionale 5 MP-Kamera, optional mit Farbmodus, optional mit Focus Finder Micro.View®+ Compact Messkopf optional AF mit Focus Finder Motorisierter oder RGBRGB manueller Revolver Motorisierter oder manueller Revolver GREEN GREEN GREEN GREEN Objektive Verschiedene manuelle oder motorisierte XY-Positioniertische 75 mm x 75 mm, inkl. Kippplattform Motorisierte XY-Positioniertisch 200 mm x 200 mm, manuelle oder motorisierte Kippplattform Distanzstücke für bis zu 370 mm hohe Prüflinge Aktiv gedämpftes Breadboard Optischer Tisch:...