OPTRIX3D
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OPTRIX 3D 2D und 3D Wafer Inspektion Das OPTRIX 3D Wafer Inspektionssystem bietet Ihnen eine umfassende und flexible AOI-Lösung innerhalb der Waferfertigung bis zur abschliessenden Inspektion nach dem Tapen der Bauteile an. Es können sowohl 2D als auch 3D Kontrollen durchgeführt werden. Mit über 10 Jahren Erfahrung in der 3D Vermessung und der bewährten phasenmessendenTriangulation von OPTRIX 3D kann der Sensor nicht nurx/y-Abmessun-gen, sondern auch Höhenwerte erfassen und bietet damit echte 3D-Messung. Die Messung ist unabhängig von Farbe und Oberflächenstruktur. Die Vorteile für Ihre Fertigung auf einen Blick: ■ Echte 3D Bump Vermessung ■ Kombinierte 2D und 3D Kontrolle ■ Verbesserung der Produktqualität durch frühzeitige Fehlererkennung ■ Vermeidung von Kundenreklamationen ■ Einfaches Handling von Wafern direkt aus dem Magazin ■ Neueste 8 Megapixel Kamera ■ Einbindung in bestehende Prozessmanagementsoftware ■ Waferverwaltungssoftware ■ Barcode und DataMatrixCode Erkennung ■ Sonderlösungen realisierbar Technische Beschreibung Die automatischen optischen Inspektionssysteme (AOI) von vision-OS wurden für die hochgenaue Vermessung und Überprüfung von Wafern entwickelt. Sie arbeiten zuverlässig, genau und dabei schnell. Durch die zeitnahe Rückmeldung der optischen Inspektion erhöhen Sie Ihre Produktqualität und reduzieren Kundenreklamationen . VISION Automatic Optical Inspection Systems

Eigenschaften: ■ Höhere Effizienz durch schnellen Prüfablauf ■ Äußerst geringe Anzahl von Fehlalarmen und niedrigste Schlupfraten ■ Effektive, extrem schnelle Erkennung von Fehlern ■ Seit über 10 jahren bewährte 3D-Sen-sortechnik mit neuester 8 Megapixel Kamera ■ Hohe Flexibilität durch vom Kunden vorgegebene Prüfkriterien ■ Niedrige Personalkosten ■ Extrem kurze Anlaufzeiten ■ Schnellere Reaktionszeiten durch Überwachung mehrerer Linien Zusätzliche Eigenschaften: ■ Einfach zu bedienende Benutzeroberfläche ■ Statistik frei erweiterter durch kundenspezifische SQL-Abfragen ■ 2D/3D-Anzeige ■...